參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.條紋間距測量：分辨率≤0.1μm，測量范圍5-500μm
2.干涉對比度分析：動態(tài)范圍0-255級灰度值
3.相位梯度計(jì)算：角度分辨率0.05
4.表面形變量評估：Z軸精度2nm
5.應(yīng)力分布建模：空間分辨率10μm10μm網(wǎng)格

檢測范圍

1.光學(xué)玻璃元件：包括非球面透鏡、棱鏡及激光諧振腔鏡片
2.金屬薄膜涂層：厚度50nm-5μm的真空鍍膜層
3.高分子復(fù)合材料：碳纖維增強(qiáng)聚合物(CFRP)層壓結(jié)構(gòu)
4.半導(dǎo)體晶圓：直徑≤300mm的硅基/砷化鎵基片
5.精密機(jī)械部件：軸承滾道表面及齒輪嚙合面

檢測方法

1.ASTME903-20：基于光譜反射率的干涉條紋分析方法
2.ISO10110-8:2020：光學(xué)元件表面應(yīng)力測試規(guī)范
3.GB/T34879-2017：微納米表面形貌激光干涉測量法
4.ISO14978:2018：幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS)通用測量條件
5.GB/T34370.5-2020：機(jī)械振動與沖擊信號處理指南

檢測設(shè)備

1.ZygoVerifireMST：波長632.8nm氦氖激光干涉儀，PV值測量精度λ/100
2.KeyenceLK-G5000：激光共聚焦掃描儀，Z軸重復(fù)精度3nm
3.BrukerContourGT-X3：白光干涉三維形貌儀，橫向分辨率0.35μm
4.OlympusLEXTOLS5000：激光顯微系統(tǒng)，支持ISO25178標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)集
5.MitutoyoMF-U1000A：超精密輪廓儀，最大行程100mm線性誤差0.1μm
6.PolytecMSA-600：微系統(tǒng)分析儀，振動測量帶寬DC-25MHz
7.TaylorHobsonCCIHD：相干掃描干涉儀，垂直分辨率0.01nm
8.NikonNEXIVVM-300：

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)