參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.礦物組成分析：測定橄欖石（Fo值75-98）、低鈣輝石（En80-95）含量及金屬相比例（鐵紋石/鎳紋石占比3-25%）
2.球粒結(jié)構(gòu)表征：測量球粒直徑（0.1-5mm）、內(nèi)部放射狀結(jié)構(gòu)占比（≥60%）及玻璃質(zhì)基質(zhì)含量（≤15%）
3.氧同位素測定：δ18O值范圍（+3.5‰至+6.5‰），Δ17O值（-0.2‰至+0.5‰）
4.沖擊變質(zhì)等級：依據(jù)Stffler分級標(biāo)準(zhǔn)判定S1-S6階段
5.微量元素豐度：測定稀土元素配分模式（Eu異常值0.8-1.2）、揮發(fā)性元素（Zn＜50ppm）

檢測范圍

1.原始未分異隕石標(biāo)本（EH3-EL6化學(xué)群）
2.實(shí)驗(yàn)室合成模擬隕石材料（FeO/SiO?摩爾比0.8-1.5）
3.地質(zhì)博物館館藏隕石比對樣本
4.沖擊熔融脈體包裹物（寬度＜200μm）
5.宇宙風(fēng)化產(chǎn)物（太陽風(fēng)注入He含量＞110??cm/g）

檢測方法

1.ASTME3061-17《巖石薄片巖相分析法》進(jìn)行結(jié)構(gòu)解析
2.ISO14869-1:2001《硅酸鹽全巖化學(xué)分析方法》
3.GB/T17416.2-2018《X射線衍射定量相分析方法》
4.GB/T14506.30-2010《電子探針顯微分析通則》
5.ISO17247:2020《穩(wěn)定同位素質(zhì)譜測試規(guī)程》

檢測設(shè)備

1.JEOLJSM-7900F場發(fā)射掃描電鏡（分辨率0.8nm@15kV）
2.RigakuSmartLabX射線衍射儀（θ/θ測角儀精度0.0001）
3.ThermoFisheriCAPRQICP-MS（檢出限＜0.1ppb）
4.CAMECASXFive電子探針（束斑直徑1μm）
5.DeltaVAdvantage同位素質(zhì)譜儀（質(zhì)量分辨率＞200）
6.LeicaDM2700P偏光顯微鏡（透反射雙模式）
7.BrukerQuantaxEDS能譜系統(tǒng)（探測元素B-U）
8.NetzschSTA449F5同步熱分析儀（溫度精度0.1℃）
9.Agilent8900三重四極桿ICP-MS/MS（質(zhì)量干擾消除率＞99%）
10.ZeissAxioImager.M2m全自動巖相系統(tǒng)（圖像拼接精度2μm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)