參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.電致發(fā)光效率：測(cè)量單位電流密度下的光輸出強(qiáng)度（cd/A），典型測(cè)試范圍10-500cd/A

2.光譜特性分析：波長(zhǎng)范圍380-780nm，分辨率≤1nm，CIE色坐標(biāo)精度0.002

3.電流-亮度特性：測(cè)試電流密度0.1-100mA/cm，亮度測(cè)量范圍1-10,000cd/m

4.響應(yīng)時(shí)間：上升時(shí)間/下降時(shí)間測(cè)量精度0.1μs

5.器件壽命測(cè)試：連續(xù)工作模式下亮度衰減至初始值50%的時(shí)間測(cè)量

檢測(cè)范圍

1.有機(jī)電致發(fā)光材料（OLED）：包括小分子材料和聚合物材料體系

2.量子點(diǎn)電致發(fā)光器件：CdSe/ZnS核殼結(jié)構(gòu)、鈣鈦礦量子點(diǎn)等新型材料

3.無機(jī)半導(dǎo)體材料：GaN基LED芯片、ZnO薄膜器件

4.柔性顯示器件：可彎曲基板上的有機(jī)/無機(jī)復(fù)合發(fā)光器件

5.光電器件組件：微型顯示器、照明模組等終端產(chǎn)品

檢測(cè)方法

1.ASTME2303-20：電致發(fā)光器件光譜特性標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

2.ISO14707:2015：輝光放電光譜法測(cè)定表面發(fā)射特性

3.GB/T26179-2010：電致發(fā)光顯示模塊光電性能測(cè)試方法

4.IEC62341-6-2：有機(jī)發(fā)光二極管顯示器光學(xué)參數(shù)測(cè)量規(guī)范

5.JISC8156:2018：LED模組光電特性測(cè)量程序

檢測(cè)設(shè)備

1.Keithley2400系列源表：提供0.1fA至10A的精密電流輸出與測(cè)量

2.OceanOpticsUSB4000光譜儀：波長(zhǎng)范圍200-1100nm，光學(xué)分辨率0.35nm

3.KonicaMinoltaCS-2000分光輻射亮度計(jì)：亮度測(cè)量精度2%，最小測(cè)量視角0.1

4.AgilentB2902A精密電源/分析儀：100nV電壓分辨率和10fA電流分辨率

5.LabsphereLMS-7600積分球系統(tǒng)：直徑760mm，支持全空間光通量測(cè)量

6.HamamatsuC12132光電倍增管系統(tǒng)：響應(yīng)時(shí)間<1ns，波長(zhǎng)范圍185-900nm

7.Chroma19053-SCT熱阻測(cè)試儀：支持-40℃至+150℃溫度控制精度0.5℃

8.AdmesyAsteria光色分析儀：同時(shí)測(cè)量亮度、色度及光譜功率分布

9.TektronixDPO7254示波器：2.5GHz帶寬，40GS/s采樣率用于瞬態(tài)響應(yīng)分析

10.ESPECPL-3KPH環(huán)境試驗(yàn)箱：溫濕度控制范圍-70℃~+180℃，濕度10%~98%RH

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)