參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.SiO?含量測(cè)定（范圍：40-55wt%）

2.FeO/Fe?O?比值分析（精度0.5%）

3.MgO含量測(cè)定（范圍：10-25wt%）

4.晶胞參數(shù)測(cè)定（a,b,c軸精度0.001）

5.密度測(cè)試（范圍：3.0-3.5g/cm）

6.莫氏硬度測(cè)試（等級(jí)5-6）

7.熱重分析（TG-DSC同步測(cè)試）

8.紅外光譜特征峰識(shí)別（400-4000cm?）

9.陽(yáng)離子占位率計(jì)算（M1/M2位點(diǎn)分布）

10.多色性指數(shù)測(cè)定（XYZ三向色差）

檢測(cè)范圍

1.工業(yè)級(jí)鎂鐵閃石原礦

2.耐火材料用改性鎂鐵閃石

3.地質(zhì)勘探巖芯樣品

4.陶瓷工業(yè)原料粉體

5.冶金熔劑加工原料

6.環(huán)境粉塵中鎂鐵閃石組分

7.人工合成鎂鐵閃石晶體

8.建筑裝飾石材原料

9.磨料行業(yè)用顆粒材料

10.考古樣品礦物組分

檢測(cè)方法

ASTME1915-11X射線熒光光譜法測(cè)定主量元素

ISO22262-2:2014粉塵中礦物定量分析

GB/T17412.3-2010巖石礦物鑒定規(guī)程

GB/T14353.15-2019礦石化學(xué)分析方法

JISM8856:2019硅酸鹽礦物XRD分析通則

ISO24173:2009電子背散射衍射分析標(biāo)準(zhǔn)

檢測(cè)設(shè)備

1.PANalyticalAxiosMaxX射線熒光光譜儀（元素定量）

2.RigakuSmartLabX射線衍射儀（晶體結(jié)構(gòu)分析）

3.ShimadzuEPMA-1720H電子探針（微區(qū)成分測(cè)定）

4.NetzschSTA449F3同步熱分析儀（熱穩(wěn)定性測(cè)試）

5.BrukerHyperion3000紅外顯微鏡（分子結(jié)構(gòu)表征）

6.LeicaDM4P巖相顯微鏡（光學(xué)特性觀察）

7.MalvernMastersizer3000激光粒度儀（顆粒分布測(cè)定）

8.AgilentCary630FTIR傅里葉紅外光譜儀（官能團(tuán)識(shí)別）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)