參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

光學(xué)性能檢測(cè)：

• 透射率測(cè)量：可見(jiàn)光波段透射率（380-780nm，≥95%）、紫外阻隔率（參照ISO 13468-1）
• 反射率控制：平均反射率（≤2%，波長(zhǎng)范圍400-700nm）、鏡面反射偏差
• 吸收率分析：特定波長(zhǎng)吸收系數(shù)（如550nm處≤0.05）

• 平均厚度：納米級(jí)精度（±5nm，參照ISO 14782）
• 厚度均勻性：面內(nèi)偏差（≤±3%，掃描點(diǎn)數(shù)≥100）
• 膜層結(jié)構(gòu)：多層膜厚度比（如SiO2/TiO2=1:1.5）

• 硬度測(cè)試：納米壓痕硬度（≥5GPa，參照ASTM E2546）
• 附著力評(píng)估：劃格法附著力等級(jí)（≥4B，參照ASTM D3359）
• 耐磨性：摩擦系數(shù)（≤0.2，循環(huán)次數(shù)≥1000次）

• 粗糙度測(cè)量：Ra值（≤10nm，掃描面積1mm2）
• 缺陷密度：針孔/劃痕計(jì)數(shù)（≤5個(gè)/cm2）
• 清潔度：顆粒污染等級(jí)（參照ISO 14644-1）

• 耐化學(xué)性：酸堿浸泡后透射率變化（ΔT≤1%）
• 耐候性：紫外老化測(cè)試（500h后黃變指數(shù)ΔYI≤1）
• 濕熱穩(wěn)定性：85°C/85%RH環(huán)境透射衰減（≤0.5%）

• 電阻率：方阻值（如ITO膜≤100Ω/sq，參照GB/T 20513）
• 導(dǎo)電均勻性：面電阻偏差（≤±5%）
• 介電常數(shù)：高頻介電損耗（≤0.01，1MHz）

• 熱膨脹系數(shù)：CTE值（≤10ppm/K，參照ASTM E831）
• 熱穩(wěn)定性：DSC熔點(diǎn)測(cè)試（分解溫度≥200°C）
• 熱導(dǎo)率：薄膜熱阻（≤0.1W/m·K）

• 溫度循環(huán)：-40°C至85°C循環(huán)后性能保持率（≥98%）
• 鹽霧測(cè)試：48h鹽霧腐蝕等級(jí)（≤9級(jí)，參照ISO 9227）
• 濕熱交變：溫濕度交變后膜層剝離力變化（ΔF≤5%）

• 霧度值：透光霧度（≤1%，參照ASTM D1003）
• 清晰度：圖像分辨率衰減（≥90%）
• 角度依賴(lài)性：入射角60°透射率變化（ΔT≤2%）

• 耐磨壽命：Taber磨耗測(cè)試（失重≤0.1mg/1000次）
• 劃痕抗力：臨界載荷（≥10N，參照ISO 1518）
• 疲勞測(cè)試：彎曲循環(huán)后裂紋密度（≤1條/cm）

檢測(cè)范圍

1. ITO導(dǎo)電薄膜： 重點(diǎn)檢測(cè)方阻均勻性和可見(jiàn)光透射率，確保應(yīng)用于觸控屏的導(dǎo)電性與光學(xué)清晰度

2. 抗反射涂層： 側(cè)重反射率最小化和波段選擇性檢測(cè)，用于鏡頭和顯示面板以減少眩光

3. 光學(xué)保護(hù)膜： 核心檢測(cè)耐磨性和環(huán)境穩(wěn)定性，保障手機(jī)屏幕等表面的抗劃傷性能

4. 濾光片薄膜： 聚焦波長(zhǎng)截止特性和透射均勻性，適用于相機(jī)和光譜儀的光學(xué)過(guò)濾

5. 增透膜： 重點(diǎn)評(píng)估透射率提升效果和膜層粘附力，用于太陽(yáng)能電池板的光吸收優(yōu)化

6. 偏振膜： 檢測(cè)偏振效率和角度依賴(lài)性，確保LCD顯示器的高對(duì)比度性能

7. 建筑玻璃膜： 側(cè)重隔熱系數(shù)和紫外阻隔率檢測(cè)，應(yīng)用于節(jié)能建筑的陽(yáng)光控制

8. 太陽(yáng)能電池封裝膜： 核心測(cè)試濕熱老化和透光衰減，保障光伏組件的長(zhǎng)期可靠性

9. 顯示面板光學(xué)膜： 重點(diǎn)檢測(cè)視角均勻性和霧度值，用于OLED和LCD的亮度一致性

10. 醫(yī)療光學(xué)膜： 側(cè)重生物兼容性測(cè)試和透射光譜精度，確保內(nèi)窺鏡等器械的光學(xué)安全

檢測(cè)方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：

• ISO 13468-1:2019 塑料透光率測(cè)定方法
• ASTM D1003-21 透明塑料霧度和透光率標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
• ASTM E2546-15 納米壓痕硬度測(cè)試方法
• ISO 9227:2022 人造氣氛腐蝕試驗(yàn)鹽霧試驗(yàn)
• ISO 14782:2005 塑料薄膜和薄片霧度測(cè)定

• GB/T 2410-2008 塑料透光率和霧度測(cè)定方法（與國(guó)際ISO 13468差異：測(cè)試樣品尺寸要求更嚴(yán)，最小為50mm×50mm）
• GB/T 20513-2006 半導(dǎo)體器件金屬氧化物薄膜電性能測(cè)試方法（與ASTM差異：電阻率測(cè)量使用四探針?lè)〞r(shí)，電流范圍限定為1-10mA）
• GB/T 1732-2020 漆膜耐沖擊測(cè)定法（附著力測(cè)試與ASTM D3359差異：沖擊高度標(biāo)準(zhǔn)為50cm，而ASTM為30cm）
• GB/T 2423.3-2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)濕熱試驗(yàn)方法（與ISO 9227差異：濕熱循環(huán)周期固定為24h，而ISO允許自定義）
• GB/T 11186.3-2022 塑料薄膜和薄片厚度測(cè)定方法（與ISO 14782差異：厚度測(cè)量使用接觸式輪廓儀時(shí)，壓力控制更嚴(yán)格）

檢測(cè)設(shè)備

1. 紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)： UVPro-6000型（波長(zhǎng)范圍190-1100nm，分辨率0.1nm）

2. 橢偏儀： EllipsMaster-300型（厚度測(cè)量精度±0.2nm，角度范圍0-90°）

3. 納米壓痕儀： NanoTest-X100型（載荷范圍0.01-500mN，位移分辨率0.01nm）

4. 表面輪廓儀： Profilometer-PRO（掃描精度±1nm，最大掃描長(zhǎng)度100mm）

5. 四探針電阻測(cè)試儀： ResistCheck-4P（測(cè)量范圍0.1Ω/sq-10MΩ/sq，精度±0.5%）

6. 環(huán)境測(cè)試箱： ClimateSim-850型（溫度范圍-70°C至180°C，濕度范圍10-98%RH）

7. 摩擦測(cè)試機(jī)： Abrader-MKII（負(fù)載范圍0-20N，轉(zhuǎn)速0-100rpm）

8. 熱分析儀： ThermoScan-DSC（溫度精度±0.1°C，升降溫速率0.1-100°C/min）

9. 數(shù)字顯微鏡： MicroView-HD（放大倍數(shù)50-1000x，圖像分辨率5MP）

10. 光譜輻射計(jì)： SpectraRad-S500（波長(zhǎng)精度±0.2nm，動(dòng)態(tài)范圍0.01-1000W/m2）

11. 鹽霧試驗(yàn)箱： SaltSpray-C35（噴霧量1-2ml/h，溫度控制±1°C）

12. 劃格附著力測(cè)試儀： CrossHatch-T（刀片間距1mm/2mm，壓力可調(diào)0-10N）

13. 霧度計(jì)： HazeMeter-HZ200（測(cè)量范圍0-100%，精度±0.1%）

14. 熱膨脹系數(shù)測(cè)定儀： TMA-5000（溫度范圍RT-1000°C，位移分辨率0.1μm）

15. 彎曲疲勞測(cè)試機(jī)： FlexTester-F100（彎曲角度0-180°，循環(huán)頻率0.5-5Hz）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)