高純度四氯化硅檢測(cè)摘要:高純度四氯化硅檢測(cè)專注于評(píng)估SiCl4的化學(xué)純度和雜質(zhì)含量,核心檢測(cè)對(duì)象包括金屬雜質(zhì)(如Fe、Al、Cu)、非金屬雜質(zhì)(如B、P)、水分含量及顆粒物分布。關(guān)鍵項(xiàng)目涵蓋純度水平≥99.9999%,雜質(zhì)限量低于1ppb,物理參數(shù)如沸點(diǎn)(57.6°C±0.5°C)和密度(1.483g/cm3±0.005g/cm3)。檢測(cè)依據(jù)國(guó)際和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),重點(diǎn)關(guān)注半導(dǎo)體級(jí)產(chǎn)品對(duì)痕量污染物的敏感性,確保材料在集成電路和光纖制造中滿足超凈要求。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
純度檢測(cè):
1.半導(dǎo)體級(jí)四氯化硅:用于集成電路制造,檢測(cè)重點(diǎn)在超低金屬雜質(zhì)(Fe、Cu≤0.1ppb)和水分控制(≤5ppm),確保無(wú)顆粒污染。
2.光纖級(jí)四氯化硅:應(yīng)用于光纖預(yù)制棒生產(chǎn),側(cè)重羥基含量(OH?≤0.1ppm)和紫外吸收率,避免光信號(hào)衰減。
3.太陽(yáng)能級(jí)四氯化硅:用于光伏硅片沉積,檢測(cè)硼/磷雜質(zhì)(≤0.3ppb)和碳?xì)埩簦瑑?yōu)化光電轉(zhuǎn)換效率。
4.高純?cè)噭┘?jí)四氯化硅:作為實(shí)驗(yàn)室標(biāo)準(zhǔn)品,重點(diǎn)分析總純度(≥99.9999%)和批次一致性,減少實(shí)驗(yàn)誤差。
5.電子級(jí)四氯化硅:適用微電子封裝,檢測(cè)顆粒物濃度(≤100個(gè)/mL)和鹵素殘留,保障器件可靠性。
6.工業(yè)級(jí)四氯化硅:用于化工合成,檢測(cè)非金屬雜質(zhì)(B/P≤1.0ppm)和密度偏差,滿足基礎(chǔ)純度要求。
7.研究級(jí)四氯化硅:面向新材料開(kāi)發(fā),側(cè)重光譜特性(紅外峰位置)和熱穩(wěn)定性,支持創(chuàng)新應(yīng)用。
8.定制純化級(jí)四氯化硅:根據(jù)客戶規(guī)格,檢測(cè)特定元素(如As≤0.05ppb)和物理參數(shù),實(shí)現(xiàn)定制化控制。
9.回收再利用級(jí)四氯化硅:源于廢料再生,重點(diǎn)篩查環(huán)境污染物(重金屬≤0.5ppb)和溶劑殘留,確保循環(huán)利用安全。
10.納米材料合成用四氯化硅:用于納米硅制備,檢測(cè)顆粒尺寸分布(≤0.1μm)和反應(yīng)活性,優(yōu)化納米結(jié)構(gòu)性能。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):
1.電感耦合等離子體質(zhì)譜儀:Agilent7900型(檢測(cè)限≤0.01ppt,質(zhì)量范圍5-260amu)
2.氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀:ThermoFisherISQ7000型(分辨率≥60,000,掃描速度10Hz)
3.卡爾費(fèi)休水分測(cè)定儀:Metrohm917型(精度±0.1μg,滴定范圍0-100%)
4.激光粒子計(jì)數(shù)器:ParticleMetricsLS-1000型(粒徑范圍0.05-10μm,計(jì)數(shù)精度±3%)
5.紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì):ShimadzuUV-2700型(波長(zhǎng)范圍190-900nm,帶寬0.1nm)
6.傅里葉變換紅外光譜儀:PerkinElmerSpectrum3型(分辨率0.4cm?1,掃描速度10次/秒)
7.原子吸收光譜儀:VarianAA240FS型(檢測(cè)限≤0.1ppb,石墨爐溫度≥3000°C)
8.密度計(jì):AntonPaarDMA4500型(精度±0.0001g/cm3,溫度控制±0.01°C)
9.沸點(diǎn)測(cè)定儀:KoehlerK93400型(測(cè)量范圍-10°C至400°C,精度±0.1°C)
10.離子色譜儀:DionexICS-6000型(分離柱效率≥50,000plates/m,電導(dǎo)檢測(cè)限≤0.1ppb)
11.熱重分析儀:NETZSCHTG209F3型(溫度范圍RT-1000°C,靈敏度0.1μg)
12.熒光光譜儀:HoribaFluoroMax-4型(激發(fā)波長(zhǎng)200-900nm,檢出限≤0.001RU)
13.pH/電導(dǎo)率儀:MettlerToledoSevenExcellence型(pH精度±0.01,電導(dǎo)率范圍0-2000mS/cm)
14.自動(dòng)滴定儀:HannaHI901型(滴定體積精度±0.001mL,終點(diǎn)判斷誤差≤0.1%)
15.X射線熒光光譜儀:RigakuZSXPrimusIV型(元素范圍Be-U,檢測(cè)限≤1ppm)
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
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