參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

鎳含量：依據(jù)GB/T223.11標(biāo)準(zhǔn)，測量范圍0.1%-100%，精度±0.01%，用于評(píng)估材料成分一致性

鈷含量：采用ICP-OES方法，測量范圍0.1%-100%，精度±0.01%，確保元素比例符合設(shè)計(jì)規(guī)格

錳含量：測量范圍0.1%-100%，精度±0.01%，通過原子吸收光譜法測定，控制雜質(zhì)影響

鋰含量：依據(jù)ISO11885標(biāo)準(zhǔn)，測量范圍0.1%-100%，精度±0.01%，關(guān)鍵于電化學(xué)性能穩(wěn)定性

鋁含量：針對鎳鈷鋁材料，測量范圍0.01%-10%，精度±0.001%，防止晶格缺陷

鐵含量：適用于磷酸鐵鋰材料，測量范圍0.01%-10%，精度±0.001%，確保無有害雜質(zhì)

磷含量：測量范圍0.1%-100%，精度±0.01%，使用XRF方法驗(yàn)證化學(xué)計(jì)量比

比表面積：依據(jù)ISO9277標(biāo)準(zhǔn)，BET法測試范圍0.1-100m2/g，精度±0.1m2/g，影響離子擴(kuò)散速率

振實(shí)密度：依據(jù)GB/T5162標(biāo)準(zhǔn)，測量范圍0.5-5g/cm3，精度±0.01g/cm3，優(yōu)化電極壓實(shí)密度

粒度分布（D50）：激光衍射法測定，范圍1-50μm，精度±0.1μm，控制顆粒均勻性

首次放電容量：恒流充放電測試，0.1C倍率下范圍100-300mAh/g，精度±1mAh/g，評(píng)估初始性能

循環(huán)性能：500次循環(huán)后容量保持率≥80%，測試條件1C充放電，依據(jù)IEC62660標(biāo)準(zhǔn)

熱穩(wěn)定性：DSC法測定放熱起始溫度≥200°C，精度±1°C，防止熱失控風(fēng)險(xiǎn)

水分含量：卡爾費(fèi)休法依據(jù)ISO760標(biāo)準(zhǔn)，檢測限10ppm，避免電解液分解

雜質(zhì)元素（如鈉、鉀、鈣）：檢測限1ppm，ICP-MS方法控制離子污染

晶體結(jié)構(gòu)純度：XRD法分析，依據(jù)ASTMD5380，確保無雜相生成

電化學(xué)阻抗譜：EIS測試界面阻抗，頻率范圍10mHz-100kHz，評(píng)估電荷轉(zhuǎn)移效率

壓實(shí)密度：模擬電極工藝，范圍1.0-4.0g/cm3，精度±0.02g/cm3，優(yōu)化電池能量密度

氧含量：惰性氣體熔融法，測量范圍0.01%-5%，精度±0.001%，防止結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定

表面形貌：SEM觀察顆粒形貌，分辨率1nm，依據(jù)ISO13322標(biāo)準(zhǔn)

檢測范圍

鈷酸鋰（LiCoO2）：高電壓正極材料，需嚴(yán)格檢測鎳雜質(zhì)及熱穩(wěn)定性

磷酸鐵鋰（LiFePO4）：橄欖石結(jié)構(gòu)材料，重點(diǎn)測試鐵含量和循環(huán)壽命

鎳鈷錳三元材料（LiNi1/3Co1/3Mn1/3O2，NCM111）：平衡性能材料，檢測元素比例及粒度

鎳鈷錳三元材料（LiNi0.5Co0.2Mn0.3O2，NCM523）：中鎳材料，側(cè)重電化學(xué)一致性

鎳鈷錳三元材料（LiNi0.6Co0.2Mn0.2O2，NCM622）：高能量密度材料，測試鎳含量及熱穩(wěn)定性

鎳鈷錳三元材料（LiNi0.8Co0.1Mn0.1O2，NCM811）：超高鎳材料，嚴(yán)格監(jiān)控鋰殘留及循環(huán)衰減

鎳鈷鋁三元材料（LiNi0.8Co0.15Al0.05O2，NCA）：特斯拉常用材料，檢測鋁含量及水分

錳酸鋰（LiMn2O4）：尖晶石結(jié)構(gòu)材料，關(guān)注錳溶解及雜質(zhì)控制

高壓尖晶石鎳錳酸鋰（LiNi0.5Mn1.5O4）：高電壓應(yīng)用，測試相純度及電化學(xué)性能

富鋰錳基材料（xLi2MnO3·(1-x)LiMO2）：高容量材料，檢測首次效率及結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性

磷酸鈷鋰（LiCoPO4）：高壓材料，側(cè)重鈷含量及熱安全性

釩酸鋰（LiV3O8）：多電子材料，測試釩價(jià)態(tài)及循環(huán)性能

硫化物正極（如Li2S）：固態(tài)電池材料，檢測硫含量及界面兼容性

鎳錳酸鋰（LiNi0.5Mn0.5O2）：二元材料，平衡鎳錳比例及振實(shí)密度

鈷鎳錳酸鋰（LiCoNiMnO2）：復(fù)合材料，綜合測試元素分布及比表面積

層狀氧化物材料（如LiCoO2衍生物）：通用正極，覆蓋全項(xiàng)檢測參數(shù)

納米復(fù)合正極材料：增強(qiáng)型設(shè)計(jì)，需額外測試表面改性效果

單晶正極材料：高穩(wěn)定性類型，側(cè)重晶體缺陷及粒度控制

多晶正極材料：常規(guī)應(yīng)用，檢測振實(shí)密度及電化學(xué)均勻性

摻雜改性材料（如鋁摻雜NCM）：性能優(yōu)化型，測試摻雜元素含量及熱行為

檢測方法

X射線熒光光譜法（XRF）：依據(jù)ISO12677標(biāo)準(zhǔn)，測定鎳、鈷、錳等主量元素含量，精度達(dá)0.01%

電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES）：依據(jù)GB/T20127標(biāo)準(zhǔn)，檢測微量元素及雜質(zhì)，檢測限1ppm

X射線衍射法（XRD）：依據(jù)ASTMD5380標(biāo)準(zhǔn)，分析晶體結(jié)構(gòu)、相純度及晶格參數(shù)，角度范圍5-80°

掃描電子顯微鏡法（SEM）：依據(jù)ISO13322標(biāo)準(zhǔn)，觀察顆粒形貌、尺寸分布及表面缺陷，分辨率1nm

比表面積測試（BET法）：依據(jù)ISO9277標(biāo)準(zhǔn)，使用氮吸附技術(shù)，測量范圍0.01-2000m2/g，精度±1%

激光衍射粒度分析法：依據(jù)ISO13320標(biāo)準(zhǔn)，測定D10、D50、D90等參數(shù)，范圍0.01-3500μm

振實(shí)密度測試法：依據(jù)GB/T5162標(biāo)準(zhǔn)，自動(dòng)振動(dòng)裝置測量，精度±0.01g/cm3

恒電流充放電測試法：依據(jù)GB/T18287標(biāo)準(zhǔn)，評(píng)估容量、倍率性能及庫侖效率，電流精度±0.1%

電化學(xué)阻抗譜法（EIS）：依據(jù)IEC62660標(biāo)準(zhǔn)，分析電荷轉(zhuǎn)移阻抗及擴(kuò)散系數(shù)，頻率范圍10μHz-1MHz

差示掃描量熱法（DSC）：依據(jù)ISO11357標(biāo)準(zhǔn)，測定放熱峰溫度及焓變，評(píng)估熱穩(wěn)定性

熱重分析法（TGA）：依據(jù)ASTME1131標(biāo)準(zhǔn)，測量水分、揮發(fā)分含量及分解溫度，精度±0.1μg

離子色譜法（IC）：依據(jù)GB/T33345標(biāo)準(zhǔn)，檢測硫酸根、氯離子等陰離子雜質(zhì)，檢測限0.1ppb

卡爾費(fèi)休水分測定法：依據(jù)ISO760標(biāo)準(zhǔn)，庫侖法檢測水分，精度±1μg

原子吸收光譜法（AAS）：依據(jù)GB/T223標(biāo)準(zhǔn)，測定特定元素如鈉、鉀，檢測限0.1ppm

透射電子顯微鏡法（TEM）：依據(jù)ISO21363標(biāo)準(zhǔn)，高分辨成像分析晶體缺陷，分辨率0.1nm

拉曼光譜法：依據(jù)ASTME1840標(biāo)準(zhǔn)，識(shí)別材料相變及化學(xué)鍵變化，波數(shù)范圍50-4000cm?1

壓汞法孔隙度測試：依據(jù)ISO15901標(biāo)準(zhǔn)，測量孔徑分布及總孔體積，范圍3nm-1000μm

循環(huán)伏安法（CV）：依據(jù)GB/T33827標(biāo)準(zhǔn)，研究氧化還原反應(yīng)及動(dòng)力學(xué)參數(shù)，掃描速率0.1-100mV/s

氣體吸附法：依據(jù)ISO15901標(biāo)準(zhǔn)，補(bǔ)充BET測試，分析微孔結(jié)構(gòu)

元素映射分析法：結(jié)合SEM-EDS，依據(jù)ISO22309標(biāo)準(zhǔn)，可視化元素分布均勻性

檢測設(shè)備

ThermoScientificiCAP7400ICP-OES：用于高精度元素定量分析，檢測限達(dá)ppb級(jí)，波長范圍165-900nm

BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀：配備CuKα輻射源，分析晶體結(jié)構(gòu)，角度精度±0.0001°

MicromeriticsASAP2460比表面積及孔隙度分析儀：BET法測量比表面積，范圍0.01-2000m2/g，真空度10?3Pa

MalvernMastersizer3000激光粒度分析儀：測定粒度分布，范圍0.01-3500μm，分散模塊確保樣品均勻

ZeissSigma500場發(fā)射掃描電子顯微鏡：高分辨率形貌觀察，分辨率1nm，配備EDS能譜儀

MettlerToledoTGA/DSC3+同步熱分析儀：同步熱重和差示掃描量熱，溫度范圍RT-1600°C，精度±0.1°C

BioLogicVMP3多通道電化學(xué)工作站：支持恒流充放電、EIS測試，電流范圍±1A，頻率帶寬10μHz-1MHz

Metrohm930CompactICFlex離子色譜儀：陰離子和陽離子分析，檢測限0.1ppb，流速范圍0.1-5mL/min

Metrohm899Coulometer庫侖法水分測定儀：卡爾費(fèi)休水分測試，精度±1μg，支持自動(dòng)滴定

QuantachromeAutotap振實(shí)密度測試儀：自動(dòng)振動(dòng)測量振實(shí)密度，精度±0.01g/cm3，振動(dòng)頻率250次/min

PerkinElmerLambda950UV-Vis分光光度計(jì)：用于元素價(jià)態(tài)分析，波長范圍175-3300nm，分辨率0.05nm

Agilent7900ICP-MS：高靈敏度質(zhì)譜儀，檢測痕量雜質(zhì)，質(zhì)量范圍2-260amu

HitachiSU5000掃描電子顯微鏡：低真空模式觀察敏感樣品，分辨率1.5nm

NetzschSTA449F5同步熱分析儀：TGA-DSC聯(lián)用，溫度范圍RT-1500°C，氣氛可控

GamryInterface5000電化學(xué)工作站：多通道EIS測試，電流分辨率0.1pA

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)