參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。

檢測項目

物理性能檢測：

• 厚度均勻性：厚度偏差≤±3%（GB/T22638.2）
• 抗拉強度：縱向≥100MPa，橫向≥95MPa（ISO6892-1）
• 延伸率：縱向≥3%，橫向≥2.5%

• 隧道孔密度：8000-15000孔/cm2（SEM觀測法）
• 蝕坑深寬比：1.5-2.2（激光共聚焦顯微鏡）
• 表面粗糙度：Ra0.8-1.5μm（ISO4287）

• 比容量（CV值）：≥0.75μF/cm2@50Hz（JISC5141）
• 擊穿電壓（WV）：≥680V（GB/T22638.5）
• 漏電流：≤0.5μA/cm2@WV×0.8（IEC60384-4）

• 氧化膜厚度：0.8-1.2μm（橢圓偏振法）
• 介電常數(shù)：ε≥8.5@1kHz（ASTMD150）
• 氧化膜密度：≥3.1g/cm3（X射線反射法）

• 基體純度：Al≥99.99wt%（GB/T20975.25）
• 痕量元素：Fe≤50ppm，Cu≤20ppm（ICP-OES）
• 表面處理元素：P含量0.5-1.2μg/cm2（XPS分析）

• 隧道孔貫通率：≥98%（截面TEM）
• 腐蝕因子：3.0-4.5倍（質量法測算）
• 枝晶分布：枝晶長度≤15μm（金相法）

• 熱收縮率：≤0.3%@150℃×30min（GB/T22638.8）
• 高溫漏電：≤2.0μA/cm2@125℃（IEC60384-4）

• 粘結強度：≥1.5N/mm（180°剝離法）
• 界面阻抗：≤50mΩ·cm2（EIS測試）

• 鹽霧耐蝕：≥48h無點蝕（GB/T10125）
• 濕熱老化：CV衰減率≤5%@85℃/85%RH×1000h

• 晶粒尺寸：30-50μm（EBSD分析）
• 取向分布：立方織構≥95%（XRD極圖法）

檢測范圍

1.高壓陽極箔：工作電壓≥500V，重點檢測氧化膜結晶度及隧道孔垂直度

2.低壓腐蝕箔：CV值0.4-0.7μF/cm2，側重蝕坑均勻性及殘留酸根檢測

3.陰極電子鋁箔：厚度30-50μm，核心檢測表面碳含量及復合層附著力

4.軟態(tài)退火箔：硬度HV≤25，主要評估再結晶度及表面潤滑劑殘留

5.硬質光箔：抗拉強度≥150MPa，重點控制晶界雜質偏析及板形平整度

6.磷酸處理箔：表面P含量0.3-1.0μg/cm2，檢測處理層覆蓋率及耐水解性

7.鈦復合電極箔：鈦層厚度0.05-0.2μm，側重界面擴散層分析及接觸電阻

8.有機涂層箔：涂布量1.5-3.5g/m2，核心檢測涂層固化度及介電損耗

9.納米復合箔：添加劑分散粒徑≤100nm，重點評估分散均勻性及阻抗特性

10.再生鋁電極箔：雜質總量≤0.03wt%，嚴格監(jiān)控銅鋅遷移率及循環(huán)壽命

檢測方法

國際標準：

• IEC60384-4鋁電解電容器分規(guī)范
• JISH4160鋁及鋁合金箔
• ASTMB487金屬氧化物涂層厚度測量
• ISO17475電化學阻抗譜（EIS）法

• GB/T22638鋁箔試驗方法系列標準
• GB/T3615電解電容器用鋁箔
• GB/T24525金屬表面磷化膜檢測
• SJ/TJianCe83電極箔電性能測試規(guī)程

檢測設備

1.自動CV測試儀：HIOKIIM3590型（頻率范圍4Hz-200kHz，精度±0.05%）

2.場發(fā)射掃描電鏡：ZEISSGemini500（分辨率0.8nm@15kV，ETD探測器）

3.原子力顯微鏡：BrukerDimensionIcon（掃描范圍90μm，分辨率0.2nm）

4.電化學工作站：GamryInterface1010E（電流分辨率＜10pA，電位范圍±32V）

5.高頻阻抗分析儀：KeysightE4990A（頻率范圍20Hz-120MHz，基本精度0.045%）

6.X射線光電子能譜儀：ThermoScientificK-Alpha+（能量分辨率＜0.5eV，檢出限0.1at%）

7.電感耦合等離子體光譜儀：PerkinElmerAvio550（軸向觀測，檢出限ppb級）

8.臺階儀：KLA-TencorP-7（縱向分辨率0.1?，掃描速度10mm/s）

9.激光共聚焦顯微鏡：OlympusLEXTOLS5000（橫向分辨率120nm，Z軸重復性1nm）

10.熱機械分析儀：NETZSCHTMA402F3（溫度范圍-150℃-1000℃，分辨率0.1nm）

11.同步熱分析儀：MettlerToledoTGA/DSC3+（稱重精度0.1μg，升溫速率0.01-300K/min）

12.電子背散射衍射儀：EDAXVelocitySuperEBSD（采集速度＞4000點/秒，分辨率0.1μm）

13.多功能材料試驗機：Instron5967（載荷范圍0.02-30kN，應變速率0.0005-1000mm/min）

14.氦質譜檢漏儀：PfeifferVacuumASM390（漏率檢測下限5×10ˉ13mbar·L/s）

15.X射線衍射儀：BrukerD8Advance（2θ角度范圍-110°-168°，分辨率＜0.0001°）

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質