參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

成分檢測(cè)：

• 金含量：[Au%≥99.9%（參照GB11887）]
• 雜質(zhì)元素：[Pb含量≤0.005%、Cd含量≤0.002%（ISOJianCe26）]
• 合金比例：[K金成色偏差±0.5%（ASTMB562）]

• 內(nèi)徑偏差：[公差±0.2mm（GB/T1804-m）]
• 厚度均勻性：[最小0.5mm，公差±0.05mm（ISO286-2）]
• 長(zhǎng)度一致性：[公差±0.3mm（ASTME29）]

• 凈重偏差：[±0.001g（GB/T1499.2）]
• 密度驗(yàn)證：[19.3g/cm3±0.1（ISO3369）]

• 微裂紋檢測(cè)：[無(wú)肉眼可見(jiàn)缺陷（500倍顯微鏡）]
• 拋光光潔度：[Ra≤0.1μm（ISO4287）]

• 純度印記：[清晰可辨，深度≥0.1mm（GB11887）]
• 品牌標(biāo)識(shí)：[位置公差±0.5mm（ASTMF2923）]

• 維氏硬度：[HV≥80（負(fù)載10gf，參照ISO6507）]
• 抗刮擦性：[無(wú)劃痕（硬度筆測(cè)試）]

• 拉伸強(qiáng)度：[≥20MPa（GB/T228.1）]
• 焊縫完整性：[無(wú)氣孔或縫隙（X光檢測(cè)）]

• 硝酸測(cè)試：[無(wú)變色或腐蝕（ISO9227）]
• 鹽霧試驗(yàn)：[24小時(shí)無(wú)氧化（ASTMB117）]

• 磁導(dǎo)率：[≤1.05（高斯計(jì)測(cè)量）]
• 非磁性驗(yàn)證：[零磁響應(yīng)（ISO2178）]

• 元素映射：[Au、Ag、Cu含量偏差±0.1%（ISO3497）]
• 鍍層厚度：[≥0.5μm（EDXRF法）]

檢測(cè)范圍

1.純金手鐲（Au999）：金含量≥99.9%，重點(diǎn)檢測(cè)雜質(zhì)元素（Pb、Cd）及密度一致性。

2.18K金手鐲（Au750）：合金比例75%金+25%其他金屬，側(cè)重合金元素偏差（Cu、Zn）與硬度驗(yàn)證。

3.14K金手鐲（Au585）：金含量58.5%，檢測(cè)重點(diǎn)為焊接強(qiáng)度（接口處）與耐腐蝕性。

4.鑲鉆手鐲：含寶石鑲嵌，核心檢測(cè)鉆石真?zhèn)危釋?dǎo)儀）與爪鑲牢固度（拉力測(cè)試≥5N）。

5.鍍金手鐲：基材銅/銀鍍金，聚焦鍍層厚度（≥0.5μm）及結(jié)合強(qiáng)度（剝離測(cè)試）。

6.鏤空工藝手鐲：復(fù)雜鏤空結(jié)構(gòu)，重點(diǎn)探查微裂紋（顯微鏡）與結(jié)構(gòu)完整性（X光掃描）。

7.兒童黃金手鐲：小型化設(shè)計(jì)，檢測(cè)尺寸公差（內(nèi)徑±0.1mm）與表面光滑度（無(wú)銳邊）。

8.古董黃金手鐲：歷史制品，核心驗(yàn)證金純度（無(wú)損XRF）及修復(fù)痕跡（金相分析）。

9.磁性扣手鐲：帶磁性部件，檢測(cè)磁導(dǎo)率（≤1.05）及非金部件兼容性。

10.定制藝術(shù)手鐲：不規(guī)則形狀，重點(diǎn)測(cè)量尺寸偏差（3D掃描）與重量分布均勻性。

檢測(cè)方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：

• ISOJianCe26:2014金合金中金含量測(cè)定-灰吹法
• ASTMB562-15貴金屬首飾標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范
• ISO6507-1:2018金屬材料維氏硬度試驗(yàn)

• GB11887-2012首飾貴金屬純度規(guī)定及命名方法
• GB/T1804-2000一般公差線性尺寸公差
• GB/T228.1-2021金屬材料拉伸試驗(yàn)方法（與ASTME8應(yīng)變速率差異：GB要求0.00025s?1，ASTM為0.005s?1）

檢測(cè)設(shè)備

1.X射線熒光光譜儀：EDX-7000型（檢測(cè)限0.001%，分辨率≤10eV）

2.電子天平：SartoriusCPA225D型（精度±0.0001g，量程0-220g）

3.金相顯微鏡：OlympusBX53M型（放大倍數(shù)50-1000x，LED光源）

4.維氏硬度計(jì)：Wilson402MVD型（負(fù)載范圍10-1000gf，精度±1%）

5.鹽霧試驗(yàn)箱：Q-FogCCT1100型（溫度范圍15-50°C，鹽霧濃度5%）

6.萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)：Instron3369型（載荷范圍0.01-50kN，應(yīng)變速率0.0001-500mm/min）

7.X射線檢測(cè)儀：YXLONFF35型（分辨率5μm，電壓20-160kV）

8.3D掃描儀：GOMATOSQ型（精度±0.01mm，掃描速度12M點(diǎn)/秒）

9.熱導(dǎo)儀：PresidiumTesterIII型（鉆石真?zhèn)螜z測(cè)，響應(yīng)時(shí)間≤2s）

10.高斯計(jì)：LakeShore475型（磁導(dǎo)率測(cè)量范圍0.001-2T，精度±0.5%）

11.電化學(xué)工作站：AutolabPGSTAT302N型（腐蝕試驗(yàn)，電位范圍±10V）

12.激光測(cè)微儀：KeyenceLK-G5000型（尺寸公差測(cè)量，精度±0.1μm）

13.超聲波清洗機(jī)：Branson3800型（頻率40kHz，用于預(yù)處理）

14.剝離強(qiáng)度測(cè)試儀：ChatillonLTS-500型（拉力范圍0-500N，速度1-500mm/min）

15.環(huán)境試驗(yàn)箱：EspecPL-3J型（溫濕度控制-40~150°C，RH10-98%）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)