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石墨烯薄膜厚度測量

2025-06-15 關鍵詞:石墨烯薄膜厚度測量測試案例,石墨烯薄膜厚度測量項目報價,石墨烯薄膜厚度測量測試范圍 相關:
石墨烯薄膜厚度測量

石墨烯薄膜厚度測量摘要:石墨烯薄膜厚度測量是納米材料表征的關鍵技術,專注于單層至多層薄膜的納米級厚度精確量化。核心檢測對象包括化學氣相沉積法和機械剝離法制備的石墨烯薄膜,關鍵項目涵蓋平均厚度偏差(±0.1nm)、厚度均勻性(CV值≤0.05)及表面粗糙度(Ra≤0.5nm)。檢測采用原子力顯微鏡和光譜橢偏儀等高精度設備,遵循ISO和ASTM標準,確保薄膜在電子器件和光學組件中的性能可靠性。

參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。

注意:因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。

檢測項目

厚度測量指標:

  • 平均厚度:目標值±偏差(如1.0nm±0.1nm)
  • 厚度均勻性:CV值≤0.05(參照ISO/TS80004-13)
  • 層數(shù)一致性:單層或多層識別精度≥99%
表面形貌特性:
  • 表面粗糙度:Ra≤0.5nm(參照ASTME2865)
  • 缺陷密度:孔洞或裂紋≤5個/μm2
  • 臺階高度差:最大偏差±0.2nm
光學性能參數(shù):
  • 透射率:可見光波段≥97%(波長550nm)
  • 反射率:≤2%(入射角60°)
  • 消光系數(shù):k值范圍0.001-0.01
電學特性指標:
  • 電導率:≥10?S/m(常溫條件)
  • 載流子遷移率:≥15000cm2/V·s
  • 電阻均勻性:偏差≤5%
機械性能評估:
  • 楊氏模量:≥1.0TPa(拉伸測試)
  • 斷裂強度:≥130GPa
  • 彎曲剛度:≤0.1N/m
化學成分分析:
  • 碳純度:≥99.9wt%(雜質元素≤0.1wt%)
  • 氧含量:≤0.5at%
  • 氫吸附量:≤0.1monolayer
結構完整性檢測:
  • 晶格缺陷:空位密度≤1011/cm2
  • 邊界連續(xù)性:無斷裂區(qū)域≥95%
  • 堆疊順序:AB或Bernal結構確認
熱性能參數(shù):
  • 熱導率:≥5000W/m·K
  • 熱膨脹系數(shù):≤-1×10??K?1
  • 熱穩(wěn)定性:分解溫度≥600°C
粘附強度測試:
  • 薄膜粘附力:≥0.5J/m2(剝離測試)
  • 界面結合強度:剪切力≥10MPa
  • 基底兼容性:無分層現(xiàn)象
環(huán)境穩(wěn)定性驗證:
  • 氧化穩(wěn)定性:空氣中保持率≥98%(24h)
  • 濕度影響:厚度變化≤0.5%(RH90%)
  • 溫度循環(huán):-50°C至150°C無失效

檢測范圍

1.單層石墨烯薄膜:化學氣相沉積法制備,重點檢測厚度納米級精度和表面缺陷控制

2.多層石墨烯薄膜:疊層結構(2-10層),側重厚度均勻性和層間粘附強度評估

3.石墨烯透明導電薄膜:應用于顯示屏,核心檢測透光率與電導率平衡點

4.石墨烯屏障薄膜:封裝材料,重點評估厚度致密性和氣體滲透阻隔性能

5.石墨烯復合薄膜:聚合物基復合材料,檢測界面結合力和厚度分布一致性

6.石墨烯生物傳感器薄膜:醫(yī)療器件用,側重表面粗糙度對生物分子吸附的影響

7.石墨烯熱管理薄膜:散熱應用,核心檢測熱導率和厚度相關熱阻

8.石墨烯柔性電子薄膜:可穿戴設備,重點驗證彎曲下的厚度穩(wěn)定性和機械耐久性

9.石墨烯轉移薄膜:基底轉移工藝,檢測轉移后厚度損失和表面完整性

10.石墨烯涂層薄膜:防護涂層應用,評估厚度均勻性和環(huán)境腐蝕抵抗力

檢測方法

國際標準:

  • ISO/TS80004-13:2017納米技術-石墨烯及相關材料厚度測量
  • ASTME2865-12石墨烯薄膜表面形貌表征
  • ISO14706:2014表面化學分析-原子力顯微鏡法
  • ISO22493:2019微電子器件薄膜厚度測試
國家標準:
  • GB/T35097-2018納米材料單層石墨烯厚度測量方法
  • GB/T14233.1-2022醫(yī)療器械用薄膜類材料檢測
  • GB/T17722-2021金屬覆蓋層厚度測試
  • GB/T31981-2015光學薄膜特性測量
差異說明:ISO標準側重非破壞性光學技術如橢偏儀,ASTM強調機械探針法精度;GB標準調整溫度范圍(-20°C至80°Cvs國際-40°C至100°C),且GB/T35097規(guī)定厚度偏差限值更嚴格(±0.1nmvs±0.2nm)。

檢測設備

1.原子力顯微鏡:BrukerDimensionIcon(分辨率0.1nm,掃描范圍90μm)

2.光譜橢偏儀:J.A.WoollamM-2000(波長范圍190-1700nm,精度±0.01nm)

3.掃描電子顯微鏡:ZeissGeminiSEM500(放大倍數(shù)20-1000000X,分辨率0.8nm)

4.透射電子顯微鏡:FEITecnaiG2(加速電壓200kV,點分辨率0.19nm)

5.拉曼光譜儀:RenishawinVia(激光波長532nm,光譜分辨率1cm?1)

6.X射線光電子能譜儀:ThermoScientificK-Alpha(分析深度10nm,能量分辨率0.5eV)

7.表面輪廓儀:KLATencorP-17(垂直分辨率0.01nm,掃描速度1mm/s)

8.干涉顯微鏡:ZygoNewView9000(波長633nm,精度±0.1nm)

9.光學顯微鏡:OlympusBX53(放大倍數(shù)1000X,數(shù)碼相機分辨率5MP)

10.厚度計:FilmetricsF20(測量范圍0.1-350μm,重復性±0.1%)

11.電導率測量儀:Keithley2450(電流范圍1pA-1A,精度±0.05%)

12.熱導率測試儀:NetzschLFA467(溫度范圍-120°C至500°C,精度±3%)

13.萬能材料試驗機:Instron5944(載荷范圍0.02N-5kN,應變速率0.001-500mm/min)

14.環(huán)境測試箱:EspecSH-661(溫控范圍-70°C至150°C,濕度范圍10-98%RH)

15.粘附力測試儀:Dage4000(拉脫力范圍0.01-50kgf,精度±1%)

北京中科光析科學技術研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。

檢測周期:7~15工作日,可加急。

資質:旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。

標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試:支持定制化試驗方案。

售后:報告終身可查,工程師1v1服務。

中析儀器 資質

中析石墨烯薄膜厚度測量 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師

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