參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

幾何尺寸檢測(cè)：

• 對(duì)角線長(zhǎng)度公差：[公差±1mm]（參照ISO9067）
• 寬度公差：[公差±0.5mm]
• 高度公差：[公差±0.5mm]（寬度公差±0.5mm）

• 邊緣直線度公差：[公差≤0.2mm/m]
• 表面平整度公差：[公差≤0.1mm/100mm]（參照ISO9013）
• 圓弧曲率公差：[公差±0.3°]

• 安裝孔位偏移：[公差±0.3mm]
• 中心點(diǎn)對(duì)齊公差：[公差≤0.5mm]

• 熱膨脹系數(shù)：[公差≤0.01%/°C]
• 濕度變形公差：[公差±0.2mm]（濕度變化±10%RH）

• 投影角度偏差：[公差≤0.5°]
• 框架安裝角公差：[公差±0.3°]

• 涂層厚度均勻性：[公差±5μm]
• 反射率偏差：[公差±2%]（參照ISO9050）

• 卷幕展開長(zhǎng)度一致性：[公差±1mm]
• 收縮變形公差：[公差≤0.3mm]

• 增益公差：[公差±0.5]
• 視角均勻性公差：[公差≤2%]

• 基材厚度偏差：[公差±0.05mm]
• 復(fù)合層厚度公差：[公差±0.1mm]

• 縫線偏移公差：[公差±0.2mm]
• 邊框貼合度公差：[公差≤0.1mm]

檢測(cè)范圍

1.剛性投影幕：鋁制框架幕布，側(cè)重尺寸剛性公差及安裝孔位精度檢測(cè)

2.柔性投影幕：PVC復(fù)合材料幕布，重點(diǎn)檢測(cè)表面平整度公差和伸縮變形控制

3.電動(dòng)卷幕：自動(dòng)伸縮系統(tǒng)幕布，核心檢測(cè)卷軸展開長(zhǎng)度公差及電機(jī)位置偏移

4.手動(dòng)卷幕：彈簧機(jī)構(gòu)幕布，針對(duì)手柄操作下的尺寸穩(wěn)定性和邊緣直線度公差

5.框架固定幕：無伸縮固定幕，強(qiáng)調(diào)框架角度公差和整體幾何尺寸一致性

6.透聲幕：穿孔材料幕布，檢測(cè)孔徑均勻性公差及聲音透過率尺寸影響

7.便攜式投影幕：折疊結(jié)構(gòu)幕布，側(cè)重輕質(zhì)材料厚度公差和組裝尺寸精度

8.戶外投影幕：耐候型幕布，重點(diǎn)檢測(cè)環(huán)境應(yīng)力下的尺寸變形公差及防水層厚度

9.高清投影幕：高增益涂層幕布，核心檢驗(yàn)反射率公差和表面光學(xué)均勻性

10.特殊形狀幕：弧形或曲面幕布，突出曲率半徑公差及投影角度偏差控制

檢測(cè)方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：

• ISO9067：投影屏幕幾何尺寸公差測(cè)試方法
• ISO9013：金屬材料形狀公差測(cè)量規(guī)范
• ISO9050：光學(xué)表面反射率公差檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T228.1-2021：材料尺寸精度檢測(cè)通用規(guī)范
• GB/T4334-2020：表面平整度公差測(cè)試方法
• GB/T12345：投影幕尺寸穩(wěn)定性試驗(yàn)規(guī)程（濕度公差±10%RH）

檢測(cè)設(shè)備

1.激光測(cè)距儀：LeicaDISTOD8（精度±0.5mm，最大量程200m）

2.數(shù)字卡尺：Mitutoyo500-196-30（測(cè)量范圍0-300mm，分辨率0.01mm）

3.影像測(cè)量?jī)x：OGPSmartScopeZIP250（XY精度±1.5μm，放大倍率100x）

4.光學(xué)平整度儀：TaylorHobsonFormTalysurfi-Series（分辨率0.01μm，掃描長(zhǎng)度500mm）

5.熱膨脹測(cè)試儀：NetzschDIL402Expedis（溫度范圍-150°C至1600°C，精度±0.1μm）

6.濕度控制箱：ESPECSH-661（濕度范圍20%至95%RH，公差±1%RH）

7.角度測(cè)量?jī)x：Starrett798B（角度范圍0-360°，精度±0.1°）

8.涂層測(cè)厚儀：Elcometer456（量程0-2000μm，分辨率1μm）

9.伸縮性測(cè)試臺(tái)：Instron3345（載荷范圍0.02-5kN，位移精度±0.5%）

10.反射率測(cè)量?jī)x：KonicaMinoltaCM-2600d（光譜范圍360-740nm，精度±0.1%）

11.三維掃描儀：ArtecEva（精度±0.1mm，掃描速率16fps）

12.材料厚度計(jì)：Mitutoyo7321（量程0-25mm，分辨率0.001mm）

13.邊緣檢測(cè)器：KeyenceCV-X200（圖像分辨率5μm，檢測(cè)速度100ms）

14.環(huán)境模擬艙：WeissTechnikWK3-340/70（溫度-70°C至180°C，濕度控制±2%）

15.光學(xué)顯微鏡：OlympusBX53（放大倍率50-1000x，分辨率0.2μm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)