參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

壓縮性能檢測(cè)：

• 抗壓強(qiáng)度：極限載荷值[MPa]，參照ASTMC695
• 屈服強(qiáng)度：≥50MPa（基于材料規(guī)格）
• 彈性模量：測(cè)定值[GPa]（ISO604）

• 密度偏差：±0.05g/cm3（GB/T2999）
• 孔隙率：開放孔占比[%]（參照ASTMD4404）
• 尺寸穩(wěn)定性：熱膨脹系數(shù)[×10??/K]

• 晶粒尺寸：平均粒徑[μm]（ISO13383-1）
• 缺陷分布：裂紋密度[條/mm2]≥0.1
• 界面結(jié)合強(qiáng)度：粘結(jié)力[MPa]

• 高溫壓縮強(qiáng)度：800℃下保留率[%]（ISO18515）
• 熱導(dǎo)率：室溫值[W/m·K]
• 熱震穩(wěn)定性：循環(huán)次數(shù)≥50

• 灰分含量：≤0.5wt%（GB/T3521）
• 揮發(fā)分偏差：±0.3%
• 雜質(zhì)元素：鐵、硅含量[ppm]

• 循環(huán)壓縮壽命：失效周次[次]（參照ASTME466）
• 應(yīng)力松弛率：殘余應(yīng)力衰減[%/h]

• 氧化腐蝕：增重率[mg/cm2·h]（ISO21608）
• 濕度影響：強(qiáng)度保留率[%]

• 電阻率：壓縮后變化值[μΩ·m]
• 電導(dǎo)率：關(guān)聯(lián)強(qiáng)度偏差

• 沖擊壓縮強(qiáng)度：能量吸收[J/cm3]
• 應(yīng)變率響應(yīng)：加載速率[s?1]

• 超聲波速：缺陷檢出靈敏度[mm]
• X射線成像：內(nèi)部空洞分布

檢測(cè)范圍

1.等靜壓石墨塊：高密度材料（1.80-1.85g/cm3），重點(diǎn)檢測(cè)高溫壓縮強(qiáng)度和熱震穩(wěn)定性

2.擠出成型石墨塊：各向異性結(jié)構(gòu)，側(cè)重壓縮方向性差異和彈性模量

3.振動(dòng)成型石墨塊：中低密度產(chǎn)品（1.50-1.70g/cm3），檢測(cè)孔隙率對(duì)抗壓強(qiáng)度影響

4.高純石墨塊：灰分≤0.1%，重點(diǎn)分析雜質(zhì)導(dǎo)致的強(qiáng)度衰減

5.核級(jí)石墨塊：輻射環(huán)境應(yīng)用，檢測(cè)中子輻照后壓縮性能變化

6.電極石墨塊：冶金工業(yè)用，側(cè)重高溫電阻率與壓縮強(qiáng)度關(guān)聯(lián)

7.密封件石墨塊：潤(rùn)滑應(yīng)用，檢測(cè)摩擦系數(shù)與壓縮變形關(guān)系

8.復(fù)合材料石墨塊：碳纖維增強(qiáng)型，重點(diǎn)測(cè)試界面結(jié)合強(qiáng)度

9.再生石墨塊：回收材料，檢測(cè)抗壓強(qiáng)度均勻性和缺陷分布

10.特殊涂層石墨塊：表面處理產(chǎn)品，側(cè)重涂層附著力和壓縮耐久性

檢測(cè)方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：

• ASTMC695-15石墨材料抗壓強(qiáng)度測(cè)試方法
• ISO18515:2014高溫下壓縮強(qiáng)度測(cè)定
• ISO604:2002塑料壓縮性能試驗(yàn)（適用于石墨）
• ASTMD4404-10多孔材料孔隙率測(cè)量
• ISO13383-1:2012顯微結(jié)構(gòu)晶粒尺寸分析

• GB/T2999-2016耐火材料體積密度測(cè)定
• GB/T3191-2010石墨材料壓縮強(qiáng)度試驗(yàn)方法
• GB/T3521-2008石墨化學(xué)分析方法
• GB/T3074.1-2016石墨電極試驗(yàn)方法
• GB/T9966.1-2001天然石材壓縮強(qiáng)度測(cè)試（適配石墨）

檢測(cè)設(shè)備

1.電子萬能試驗(yàn)機(jī)：INSTRON5967型（載荷范圍0.02-100kN，精度±0.5%）

2.高溫壓縮裝置：GOTECHGT-7003系列（溫度范圍RT-1200℃，控溫±2℃）

3.應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)：激光引伸計(jì)EIR-LX500（精度0.1μm，采樣率1kHz）

4.密度分析儀：METTERTOLEDOXSE204（量程0.001-300g，分辨率0.0001g）

5.孔隙率測(cè)定儀：MICROMERITICSAUTOPOREV（壓力0.1-60000psi，孔徑分析范圍3nm-500μm）

6.顯微硬度計(jì)：MITUTOYOHM-200型（載荷0.01-2kg，HV標(biāo)度）

7.金相顯微鏡：OLYMPUSBX53M（放大倍數(shù)50-1000X，CCD分辨率5MP）

8.熱膨脹儀：NETZSCHDIL402C（溫度范圍-150-1600℃，膨脹分辨率0.125nm）

9.X射線衍射儀：BRUKERD8ADVANCE（角度范圍5-80°，檢測(cè)限0.1%）

10.超聲波探傷儀：OLYMPUSEPOCH650（頻率范圍0.5-15MHz，缺陷分辨率0.1mm）

11.沖擊試驗(yàn)機(jī)：ZWICKHIT5.5P（能量范圍1-50J，速率3m/s）

12.環(huán)境模擬箱：ESPECPL-3KT（溫濕度范圍-70-150℃/10-98%RH）

13.電阻率測(cè)試儀：KEITHLEY6517B（量程10Ω-1018Ω，精度±0.1%）

14.光譜分析儀：THERMOSCIENTIFICARL4460（元素檢測(cè)限0.001%）

15.疲勞測(cè)試系統(tǒng)：MTSLandmark370（載荷循環(huán)頻率0.01-100Hz，波形正弦/三角）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)