顆粒形貌SEM分析摘要:掃描電子顯微鏡(SEM)在顆粒形貌分析中用于高分辨率成像,核心檢測對象包括粉末、納米顆粒等微觀結(jié)構(gòu),關(guān)鍵項(xiàng)目涉及粒度分布(D50、D90)、形狀參數(shù)(球形度、長寬比)及表面特征(粗糙度、孔隙率)。通過二次電子和背散射電子信號(hào),結(jié)合圖像處理技術(shù),實(shí)現(xiàn)顆粒尺寸、均勻性和缺陷的定量分析,確保材料科學(xué)研究和工業(yè)質(zhì)量控制數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。檢測涵蓋金屬、陶瓷等多類材料,遵循ISO和GB標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范SEM操作參數(shù)。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
粒度分析:
1.金屬粉末:鐵粉、銅粉等,重點(diǎn)檢測粒度均勻性和表面氧化層厚度
2.陶瓷顆粒:氧化鋁、碳化硅等,側(cè)重形狀一致性和內(nèi)部氣孔分布
3.聚合物顆粒:聚乙烯、聚丙烯等,關(guān)注球形度影響熔融流動(dòng)指數(shù)
4.藥物顆粒:API粉末、賦形劑等,檢測粒徑分布和團(tuán)聚狀態(tài)以確保劑量精度
5.土壤顆粒:礦物質(zhì)、沉積物等,分析表面粗糙度和形狀用于環(huán)境評估
6.納米粒子:納米金、碳納米管等,重點(diǎn)為尺寸精度和分散均勻性
7.涂料顏料:二氧化鈦、有機(jī)顏料等,側(cè)重顆粒大小分布影響顏色均勻度
8.食品添加劑:乳糖、淀粉顆粒等,檢測形貌參數(shù)關(guān)聯(lián)流動(dòng)性安全
9.催化劑載體:氧化鋁球、分子篩等,關(guān)注孔隙率和比表面積優(yōu)化活性
10.生物材料:骨替代顆粒、細(xì)胞載體等,重點(diǎn)表面紋理影響生物相容性
國際標(biāo)準(zhǔn):
1.場發(fā)射掃描電子顯微鏡:FEIQuanta650(分辨率1.2nm,加速電壓0.5-30kV)
2.能譜儀:OxfordInstrumentsX-MaxN80(元素檢測限0.1wt%)
3.EBSD系統(tǒng):Brukere-FlashHR(取向分辨率0.5μm)
4.圖像分析軟件:ImageJ(支持形狀參數(shù)定量)
5.樣品鍍膜機(jī):QuorumQ150RES(金膜厚度5-10nm)
6.臨界點(diǎn)干燥儀:LeicaEMCPD300(生物樣品處理)
7.離子研磨儀:HitachiIM4000Plus(樣品表面拋光)
8.真空系統(tǒng):EdwardsnEXT渦輪分子泵(真空度1e-6mbar)
9.樣品臺(tái):多軸電動(dòng)臺(tái)(移動(dòng)精度1μm)
10.冷卻附件:液氮冷卻系統(tǒng)(低溫至-180°C)
11.EDS探測器:硅漂移探測器(能量分辨率129eV)
12.三維重建軟件:Avizo9.7(體積表面計(jì)算)
13.顆粒分散器:超聲波分散設(shè)備(頻率40kHz)
14.光學(xué)顯微鏡:OlympusBX53(預(yù)處理檢查)
15.計(jì)算工作站:HPZ8(64GBRAM,GPU加速圖像處理)
報(bào)告:可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
中析顆粒形貌SEM分析 - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢詳細(xì)檢測項(xiàng)目,請咨詢在線工程師
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