參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

電氣性能測試：

• 電阻變化率：±5%偏差（參照IEC60115-1）
• 絕緣電阻：≥10^12Ω（如：閾值維持24小時）
• 漏電流：≤1μA（參照JEDECJESD22-A101）

• 抗拉強度：≥100MPa（如：屈服點評估）
• 彎曲強度：參照ASTMD790標準
• 硬度變化：維氏硬度（HV）差異±10%

• 硫化腐蝕深度：≤10μm（量化顯微分析）
• 溫濕度循環(huán)：-40°C至85°C（參照IEC60068-2-14）
• 氣壓變化：85kPa至106kPa（模擬高海拔）

• 硫化物沉積率：mg/cm2/小時（參照ISO9227）
• 氧化層完整性：無剝落（電子顯微鏡驗證）
• PH值影響：中性至酸性范圍（pH3-7）

• 熱導(dǎo)率變化：±5%（參照ASTME1461）
• 熱膨脹系數(shù)：≤10ppm/°C（如：閾值控制）
• 熔點穩(wěn)定性：±2°C偏移

• 電化學(xué)阻抗：頻率1Hz至1MHz（參照ASTMG106）
• 開路電位：mV級漂移（量化腐蝕傾向）
• 極化電阻：≥10kΩ·cm2

• 晶粒尺寸：≤5μm（金相顯微鏡評估）
• 孔隙率：≤0.1%（參照ASTME562）
• 裂紋密度：無可見缺陷

• 失效時間：小時級加速（參照JESD22-A110）
• 疲勞循環(huán)：≥10^6次（模擬機械應(yīng)力）
• 老化速率：量化百分比/年

• 粗糙度變化：Ra≤0.8μm（參照ISO4287）
• 涂層附著力：≥5MPa（劃格法測試）
• 光澤度：GU值差異±5%

• 信號干擾：dB級衰減（參照CISPR32）
• 輻射發(fā)射：≤30dBμV/m
• 抗擾度：10V/m場強耐受

檢測范圍

1.電阻器：薄膜與厚膜類型，檢測硫化引起的電阻漂移（±5%上限）及端子腐蝕

2.電容器：陶瓷與電解電容，重點監(jiān)測電容值衰減（≤10%）和泄漏電流（≤1μA）

3.集成電路：CMOS與Bipolar芯片，評估引腳腐蝕深度（≤10μm）及功能失效閾值

4.連接器：金或錫鍍層端子，測試接觸電阻變化（±5mΩ）和機械耐久性

5.晶體管：MOSFET與BJT器件，側(cè)重電流增益漂移（≤5%）和熱穩(wěn)定性

6.傳感器：氣體與溫度傳感器，檢測硫化導(dǎo)致的靈敏度偏移（±3%）和響應(yīng)時間延遲

7.繼電器：電磁式與固態(tài)類型，評估觸點電阻（≤100mΩ）及開關(guān)壽命衰減

8.光電器件：LED與光電二極管，監(jiān)測發(fā)光效率變化（≤10%）和暗電流增加

9.電源模塊：DC-DC轉(zhuǎn)換器，測試輸出電壓紋波（≤50mV）及效率下降（≤5%）

10.封裝材料：環(huán)氧樹脂與陶瓷基板，重點分析氣密性失效和界面分層風險

檢測方法

國際標準：

• IEC60068-2-60環(huán)境試驗方法（硫化氫濃度控制10-100ppm）
• JEDECJESD22-A110加速壽命試驗（溫濕度85°C/85%RH）
• ASTMB117鹽霧試驗（差異：硫化氣體替代鹽霧）
• ISO9227腐蝕試驗（模擬工業(yè)大氣環(huán)境）

• GB/T2423.18環(huán)境試驗（硫化試驗方法，差異：溫升速率較IEC慢）
• GB/T10125人造氣氛腐蝕試驗（濃度范圍調(diào)整）
• GB/T17626.2電磁兼容（抗擾度測試，場強校準差異）
• GB/T5095電子設(shè)備試驗（機械應(yīng)力方法，循環(huán)次數(shù)定義不同）

檢測設(shè)備

1.環(huán)境試驗箱：Thermotron3900型（溫度范圍-70°C至180°C，濕度10-98%RH）

2.電阻測試儀：Keysight34465A型（精度±0.01%，量程0.1Ω至100MΩ）

3.光譜分析儀：OBLFQSN750-II型（檢測限0.0001%，波長范圍185-800nm）

4.顯微鏡系統(tǒng)：OlympusBX53型（放大倍數(shù)50-1000X，分辨率0.2μm）

5.萬能材料試驗機：Instron5969型（載荷范圍0.01-50kN，精度±0.5%）

6.電化學(xué)工作站：GamryInterface1010E型（頻率范圍10μHz-1MHz，電位±10V）

7.熱分析儀：NetzschSTA449F3型（溫度范圍RT-1600°C，靈敏度0.1μg）

8.氣體濃度控制器：Environics4040型（流量0.1-10L/min，精度±1%）

9.表面粗糙度儀：MitutoyoSJ-410型（測量范圍350μm，分辨率0.01μm）

10.信號發(fā)生器：Rohde&SchwarzSMJianCe100A型（頻率范圍9kHz-6GHz，輸出電平-140-20dBm）

11.恒溫恒濕箱：ESPECSH-661型（濕度控制±2%RH，溫度均勻度±0.5°C）

12.泄漏電流測試儀：Keithley6517B型（電流范圍1fA-20mA，電壓0-1000V）

13.振動試驗臺：LDSV875型（頻率范圍5-3000Hz，加速度10g）

14.X射線衍射儀：BrukerD8Advance型（角度范圍0-160°，精度0.0001°）

15.紅外熱像儀：FLIRT860型（溫度范圍-40°C-2000°C，分辨率640x480）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)