參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

熱穩(wěn)定性分析：

• 熱失重行為：起始分解溫度（T_onset）、最大失重速率溫度（T_max）、殘?zhí)悸省?2%（參照ISO11358）
• 線性收縮率：軸向收縮率≤1.5%（GB/T30019）

• 晶相轉(zhuǎn)化：β-SiC結(jié)晶度（半峰寬FWHM≤0.8°）、游離硅含量（≤0.5wt%）
• 晶粒尺寸：高溫晶粒生長(zhǎng)速率（≤50nm/1000℃）

• 拉伸強(qiáng)度保留率：室溫至1400℃強(qiáng)度保留率≥80%
• 彈性模量變化：模量衰減梯度（ΔE/E₀≤15%）

• 表面氧含量：氧雜質(zhì)濃度≤1.0at%（ISO14703）
• 粗糙度變化：Ra值波動(dòng)范圍±0.05μm

• 碳硅原子比：C/Si=1.05±0.03（EDS面掃描）
• 雜質(zhì)元素遷移：Fe/Al含量≤200ppm

• 閉孔率：≥85%（壓汞法ASTMD4404）
• 孔徑分布：主峰直徑50±10nm

• CTE檢測(cè)：軸向膨脹系數(shù)（3.5±0.2）×10^-6/K（RT-1000℃）

• 纖維/基體界面剪切強(qiáng)度：≥25MPa（微滴脫粘法）

• 氧化增重速率：≤0.1mg/cm²·h（1200℃空氣）

• 逸出氣體組分：CH₄/CO比值≤0.1（在線質(zhì)譜分析）

檢測(cè)范圍

1.先驅(qū)體轉(zhuǎn)化SiC纖維：聚碳硅烷衍生纖維系列，重點(diǎn)監(jiān)控裂解氣體釋放規(guī)律及無(wú)定形相轉(zhuǎn)變

2.化學(xué)氣相沉積SiC纖維：鎢芯/碳芯結(jié)構(gòu)纖維，側(cè)重表面沉積層致密性與芯材反應(yīng)擴(kuò)散

3.納米增強(qiáng)SiC纖維：碳納米管復(fù)合纖維，檢測(cè)分散均勻性對(duì)高溫蠕變行為的影響

4.異形截面SiC纖維：C形/十字形截面纖維，分析幾何構(gòu)型與熱應(yīng)力分布關(guān)聯(lián)性

5.含硼改性SiC纖維：硼摻雜量1-3wt%纖維，驗(yàn)證硼元素對(duì)β-SiC成核速率的促進(jìn)作用

6.涂層防護(hù)SiC纖維：BN/SiC多層涂層纖維，評(píng)估界面擴(kuò)散阻擋層失效閾值

7.吸波型SiC纖維：碳化硅/磁性粒子復(fù)合纖維，監(jiān)測(cè)電磁參數(shù)高溫漂移特性

8.連續(xù)SiC纖維束：1K-12K纖維束，檢測(cè)單絲間熱解協(xié)同效應(yīng)及束內(nèi)應(yīng)力分布

9.再生SiC纖維：廢棄纖維回收料，重點(diǎn)分析二次裂解導(dǎo)致的缺陷增殖率

10.準(zhǔn)分子輻照纖維：紫外預(yù)處理纖維，研究輻照交聯(lián)對(duì)裂解路徑的調(diào)控機(jī)制

檢測(cè)方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：

• ASTME1131-20熱重分析儀校準(zhǔn)與測(cè)試通則
• ISO22007-4:2017激光閃射法熱擴(kuò)散率測(cè)試
• JISR1650-1:2020陶瓷纖維高溫強(qiáng)度試驗(yàn)

• GB/T19466.3-2022塑料差示掃描量熱法（DSC）第3部分：熔融與結(jié)晶溫度測(cè)定
• GB/T3074.1-2022纖維增強(qiáng)復(fù)合材料高溫拉伸性能試驗(yàn)
• GB/T13221-2022納米粉末粒度分布的測(cè)定（X射線小角散射法）

方法差異說(shuō)明：ISO11358規(guī)定10℃/min標(biāo)準(zhǔn)升溫速率，GB/T19466.3允許5-20℃/min梯度測(cè)試；ASTME1131要求載氣純度99.999%，國(guó)標(biāo)允許99.99%純度

檢測(cè)設(shè)備

1.同步熱分析儀：NETZSCHSTA449F5Jupiter（溫度范圍RT-1650℃，TG分辨率0.1μg）

2.高溫拉伸試驗(yàn)機(jī)：INSTRON5967（1600℃真空環(huán)境，載荷精度±0.5%）

3.場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡：ZEISSGeminiSEM500（分辨率0.8nm，最大束流10nA）

4.X射線衍射儀：BrukerD8ADVANCE（Cu靶Kα輻射，掃描速率0.01°/s）

5.激光導(dǎo)熱儀：NETZSCHLFA467HyperFlash（測(cè)試范圍-120~2000℃，精度±3%）

6.顯微紅外光譜儀：ThermoNicoletiN10（空間分辨率3μm，波數(shù)范圍7500-600cm^-1）

7.動(dòng)態(tài)質(zhì)譜分析系統(tǒng)：HidenHPR-20（質(zhì)量范圍1-300amu，采樣頻率10Hz）

8.高溫原位拉曼儀：RenishawinViaQontor（激光波長(zhǎng)532nm，最高溫度1500℃）

9.原子力顯微鏡：BrukerDimensionIcon（掃描范圍90μm，分辨率0.2nm）

10.微力測(cè)試系統(tǒng)：Kammrath&WeissTensileStage（力值范圍0.001-500N，位移精度0.1μm）

11.全自動(dòng)壓汞儀：MicromeriticsAutoPoreV9600（孔徑測(cè)量范圍3nm-360μm）

12.氦比重計(jì)：QuantachromeUltrapyc5000（體積分辨率0.01%，測(cè)試壓力200psi）

13.聚焦離子束系統(tǒng)：FEIHeliosG4（離子束電流0.1pA-21nA，定位精度5nm）

14.X射線光電子能譜儀：ThermoESCALABXi+（能量分辨率0.45eV，深度剖析速率5nm/min）

15.高溫環(huán)境掃描鏡：KYKYEM8000（最高溫度1500℃，真空度5×10^-4Pa）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)