參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。

檢測項目

基本光學性能：

• 可見光透射比：Tvis（380-780nm光譜范圍，參照ISO 9050）
• 太陽能總透射比：Te（300-2500nm全波段，EN 410標準）
• 紫外線阻隔率：≥99%（波長280-380nm）

• 太陽能得熱系數(shù)：SHGC（計算值≤0.40，GB/T 2680）
• 遮蔽系數(shù)：SC（標定值0.87基準）
• 傳熱系數(shù)：U值（W/m2·K，ISO 10292方法）

• 顏色偏差：ΔE≤3（CIELAB空間）
• 顯色指數(shù)：Ra≥90（CIE 13.3標準）

• 抗沖擊性：9mm鋼球1.5m跌落無破裂（GB 15763.2）
• 碎片狀態(tài)：每50cm2≤40粒（鋼化玻璃）

• 耐候性：氙燈老化1000h后Tvis衰減≤3%
• 耐酸性：5%HCl溶液浸泡24h霧度變化≤2%

• 光澤度：60°角測量值≥95GU（ISO 2813）
• 霧度：≤1.0%（ASTM D1003方法）

• 中間層透射損失：PVB膠片散射率≤2.5%
• 粘接強度：≥3.5MPa（GB 29551）

• 膜層均勻性：厚度偏差±5%（橢圓偏振法）
• 耐磨性：0000#鋼絲絨500次摩擦ΔTvis≤1%

• 隔聲量：Rw≥35dB（125-4000Hz頻段）

• 光熱比：LSG≥1.25（Tvis/SHGC計算）

檢測范圍

1. 平板浮法玻璃：涵蓋3-19mm厚度范圍，重點檢測原片玻璃的透光均勻性與雜質散射。

2. 中空玻璃單元：針對雙/三層復合結構，檢測氣體層對流熱損與Low-E膜層光譜選擇性。

3. 夾層安全玻璃：關注PVB/EVA中間層光散射特性及沖擊后透光率保持率。

4. 鋼化玻璃制品：驗證表面應力層導致的雙折射現(xiàn)象對偏振光透射的影響。

5. 鍍膜節(jié)能玻璃：檢測離線/在線Low-E膜層的太陽紅外反射率（800-2500nm）。

6. 彩釉裝飾玻璃：測定釉料覆蓋率與圖案邊緣的光線衍射效應。

7. 真空玻璃組件：評估真空腔體支撐柱陣列造成的光通量衰減。

8. 光伏建筑一體化玻璃：量化硅晶電池柵線陰影導致的有效透光損失。

9. 自清潔納米涂層玻璃：檢驗TiO?光催化膜層紫外線激活效率與透射穩(wěn)定性。

10. 電致變色智能玻璃：測試著色/透明狀態(tài)切換時的動態(tài)透光范圍（通常15%-60%）。

檢測方法

國際標準：

• ISO 9050:2003 建筑玻璃光熱參數(shù)計算方法
• EN 410:2011 建筑玻璃光學與能量性能測定
• ASTM G173-03 太陽光譜輻照度參照標準
• JIS R3106:2022 平板玻璃透射反射測定規(guī)范

• GB/T 2680-2021 建筑玻璃可見光透射比測定方法
• GB/T 11944-2012 中空玻璃光學性能試驗
• JC/T 2138-2013 建筑用太陽能反射膜層檢測

檢測設備

1. 紫外可見分光光度計：PerkinElmer Lambda 1050+（波長范圍190-3300nm，帶寬0.05nm）

2. 傅里葉紅外光譜儀：Thermo Nicolet iS50（4cm?1分辨率，DTGS檢測器）

3. 積分球光譜系統(tǒng)：Labsphere LMS-900（150mm球徑，±0.5%光度精度）

4. 激光散射霧度計：BYK-Gardner haze-gard i（0.1-30%量程，D65光源）

5. 橢偏測厚儀：J.A.Woollam M-2000V（膜厚分辨率0.1?）

6. 熱箱法傳熱系數(shù)儀：GHB-1000型（冷熱板溫差40K，控溫±0.1℃）

7. 太陽模擬器系統(tǒng)：Sciencetech SS1500（AM1.5G光譜匹配度A級）

8. 恒溫氙燈老化箱：Q-LAB Q-SUN Xe-3（光強0.35W/m2@340nm）

9. 落球沖擊試驗機：ZBC-2000型（高度可調0-200cm）

10. 表面應力儀：折光法FSM-6000LE（量程0-150MPa）

11. 色差分析儀：Konica Minolta CM-26dG（10°觀察角，d/8幾何結構）

12. 激光共焦顯微系統(tǒng)：Olympus OLS5000（12000×放大，Z軸分辨率1nm）

13. 環(huán)境模擬恒溫槽：Votsch VT4002（控溫范圍-40℃~150℃）

14. 超聲波探傷儀：Olympus EPOCH 650（50MHz高頻探頭）

15. 光譜輻射照度計：Instrument Systems CAS 140D（256像素陣列探測器）

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質