參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

雜質(zhì)含量分析：

• 金屬雜質(zhì)檢測：Fe、Co、Ni殘留量（≤50ppm，參照ISO 11885）
• 非金屬雜質(zhì)檢測：硫化物含量（≤0.1wt%）、氧化物殘留（參照ASTM D5373）

• 碳含量測定：總碳含量（≥99.5%）、缺陷碳比例（參照ISO 15994）
• 管徑分布：平均直徑（1-50nm）、離散系數(shù)（CV≤10%）
• 長度一致性：長度分布（0.5-100μm）、長徑比偏差（±5%）

• 熱穩(wěn)定性：熱失重起始溫度（≥400°C）、分解速率（參照GB/T 2918）
• 電導(dǎo)率：導(dǎo)電系數(shù)（≥10^4 S/m）、載流子遷移率（參照IEC 62631）

• 元素組成：氫氧含量（≤0.5wt%）、氮雜質(zhì)（≤100ppm）
• 表面官能團：羧基密度（0.1-5 mmol/g）、羥基覆蓋率（參照ISO 18118）

• 分散性評估：團聚指數(shù)（≤1.5）、Zeta電位（-30至30mV）
• 表面形貌：粗糙度（Ra≤5nm）、孔隙率（≤5%）

• 熱導(dǎo)率：導(dǎo)熱系數(shù)（≥3000 W/mK）、比熱容（參照ASTM E1269）
• 熱膨脹系數(shù)：線性膨脹率（≤1×10^{-6}/K）

• 電容特性：比電容（≥100 F/g）、循環(huán)穩(wěn)定性（參照GB/T 33838）
• 電極性能：電荷轉(zhuǎn)移電阻（≤10 Ω·cm^2）

• 拉伸強度：抗拉強度（≥50 GPa）、彈性模量（參照ISO 6892）
• 彎曲性能：彎曲強度（≥30 MPa）

• 官能化程度：接枝率（5-20%）、功能基密度（參照ASTM E168）
• 穩(wěn)定性測試：水解穩(wěn)定性（pH 4-10耐受性）

• 細胞毒性：細胞存活率（≥95%）、炎癥因子釋放（參照ISO 10993）
• 降解性能：體外降解速率（≤0.1%/day）

檢測范圍

1. 單壁碳納米管： 主要用于電子器件，檢測重點為金屬雜質(zhì)控制和管徑一致性，確保導(dǎo)電性能達標(biāo)

2. 多壁碳納米管： 應(yīng)用于復(fù)合材料強化，側(cè)重碳含量純度和熱穩(wěn)定性檢測，防止界面失效

3. 羥基化碳納米管： 表面含羥基基團，重點檢測官能團密度和分散性，保障生物醫(yī)用兼容性

4. 羧基化碳納米管： 功能化處理，核心檢測羧基含量和電化學(xué)性能，用于電極材料優(yōu)化

5. 氨基化碳納米管： 表面修飾氨基，側(cè)重氮雜質(zhì)分析和機械強度，適用于催化劑載體

6. 碳納米管復(fù)合材料： 如聚合物基復(fù)合物，檢測重點為界面結(jié)合強度及雜質(zhì)遷移率，防止性能衰減

7. 碳納米管薄膜： 用于透明電極，核心檢測厚度均勻性和電導(dǎo)率一致性，確保光學(xué)性能

8. 碳納米管氣凝膠： 多孔結(jié)構(gòu)材料，重點評估孔隙率和熱導(dǎo)率，用于隔熱應(yīng)用

9. 碳納米管纖維： 紡織應(yīng)用，檢測拉伸強度和表面缺陷率，保障耐用性

10. 碳納米管漿料： 印刷電子材料，側(cè)重粘度穩(wěn)定性和金屬殘留控制，防止電路失效

檢測方法

國際標(biāo)準(zhǔn)：

• ISO 11885:2007 水質(zhì)-金屬元素測定-電感耦合等離子體光譜法
• ASTM D5373-21 碳材料硫含量測試方法
• ISO 15994:2005 碳材料缺陷表征-拉曼光譜法
• IEC 62631-3-1:2016 電導(dǎo)率測試-四探針法
• ISO 18118:2015 表面元素分析-X射線光電子能譜法

• GB/T 2918-2018 塑料-熱穩(wěn)定性測試-熱重分析法
• GB/T 33838-2017 納米材料電容性能測試-循環(huán)伏安法
• GB/T 228.1-2021 金屬材料拉伸試驗方法（與ASTM應(yīng)變速率差異：GB采用0.00025s^{-1}基準(zhǔn)速率）
• GB/T 19077-2016 粒度分布測試-激光衍射法（與ISO粒徑范圍差異：GB限定0.1-1000μm）
• GB/T 30436-2013 納米材料表面官能團測定-滴定法

檢測設(shè)備

1. 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀： Agilent 7900型（檢測限0.1ppb，質(zhì)量范圍2-260amu）

2. 拉曼光譜儀： Renishaw inVia型（波長532nm，分辨率1cm^{-1}）

3. 熱重分析儀： Netzsch STA 449F3型（溫度范圍RT-1600°C，精度±0.1μg）

4. 掃描電子顯微鏡： JEOL JSM-7900F型（分辨率0.8nm，放大倍數(shù)30-800,000x）

5. 透射電子顯微鏡： FEI Tecnai G2型（加速電壓200kV，點分辨率0.19nm）

6. X射線光電子能譜儀： Thermo Scientific K-Alpha型（靈敏度10^4 cps，能量分辨率0.5eV）

7. 四探針電阻測試儀： Lucas Labs Pro4型（量程0.001-10^6 Ω/sq，精度±0.5%）

8. 動態(tài)光散射儀： Malvern Zetasizer Nano型（粒徑范圍0.3nm-10μm，Zeta電位精度±2mV）

9. 萬能材料試驗機： Instron 5969型（載荷范圍0.001-50kN，位移分辨率0.025μm）

10. 電化學(xué)工作站： CHI 760E型（電流范圍±250mA，電位分辨率10μV）

11. 傅里葉變換紅外光譜儀： PerkinElmer Spectrum Two型（波段4000-400cm^{-1}，分辨率4cm^{-1}）

12. 原子力顯微鏡： Bruker Dimension Icon型（掃描范圍90μm，分辨率0.1nm）

13. 比表面及孔隙分析儀： Micromeritics ASAP 2460型（孔徑范圍0.35-500nm，比表面精度±3%）

14. 紫外-可見分光光度計： Shimadzu UV-2600型（波長190-900nm，帶寬0.1nm）

15. 激光衍射粒度儀： Beckman Coulter LS 13320型（粒徑分布0.01-2000μm，重復(fù)性±1%）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)