法向發(fā)射率摘要:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所法向發(fā)射率檢測標(biāo)準(zhǔn):ASTM E307-1972(2014)等,可進(jìn)行金屬、塑料、涂層、玻璃、陶瓷、石材、電池、光學(xué)材料等各種樣品的法向發(fā)射率檢測服務(wù)。檢測周期:常規(guī)到樣后7-15個工作日出具試驗報告。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
中析研究所可依據(jù)相應(yīng)法向發(fā)射率檢測標(biāo)準(zhǔn)通過光譜分析等方法進(jìn)行分析測試服務(wù),亦可根據(jù)客戶需求設(shè)計方案,為客戶提供非標(biāo)檢測服務(wù)。法向發(fā)射率檢測費(fèi)用:樣品初檢后結(jié)合客戶檢測需求以及實驗復(fù)雜程度進(jìn)行報價,樣品量大?。壕唧w樣品量需要根據(jù)客戶的檢測項目來決定,詳情您可以咨詢工程師。
法向發(fā)射率檢測樣品一般包括:
建筑材料:玻璃、陶瓷、塑料、金屬材料、涂層材料、纖維材料、木材等。
光學(xué)元件:透鏡、棱鏡、濾光片、反射鏡、分光器、衍射光柵等。
熱隔離材料:隔熱膜、隔熱涂層、保溫材料、隔熱板等。
薄膜材料:金屬薄膜、氧化物薄膜、聚合物薄膜、陶瓷薄膜、生物薄膜等。
涂層材料:防腐涂層、耐磨涂層、隔熱涂層、阻燃涂層、導(dǎo)熱涂層、光學(xué)涂層等。
電子元件:半導(dǎo)體器件、電路板、LED芯片、顯示屏等。
ASTM E307-1972(2014) 高溫下法向光譜發(fā)射率試驗方法
ASTM E423-1971(2014) 不導(dǎo)電試樣升溫時法向光譜發(fā)射率試驗方法
GB/T 18497.2-2019 工業(yè)加熱用電紅外發(fā)射器的特性 第2部分:中長波電紅外發(fā)射器
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中析法向發(fā)射率 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細(xì)檢測項目,請咨詢在線工程師
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