參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

　　中析研究所可依據(jù)相應(yīng)半導(dǎo)體噪聲測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行分析測(cè)試服務(wù)，亦可根據(jù)客戶需求設(shè)計(jì)方案，為客戶提供非標(biāo)檢測(cè)服務(wù)。半導(dǎo)體噪聲測(cè)試費(fèi)用：樣品初檢后結(jié)合客戶檢測(cè)需求以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度進(jìn)行報(bào)價(jià)，樣品量大?。壕唧w樣品量需要根據(jù)客戶的檢測(cè)項(xiàng)目來(lái)決定，詳情您可以咨詢工程師。

半導(dǎo)體噪聲測(cè)試項(xiàng)目

　　噪聲譜密度、系數(shù)、指標(biāo)、溫度、功率、相關(guān)、幅度、頻譜、帶寬、功率譜、相位、時(shí)域、頻域測(cè)量等。

試驗(yàn)范圍

　　半導(dǎo)體噪聲測(cè)試樣品一般包括：

　　器件樣品：晶體管、二極管、集成電路、功率放大器、運(yùn)算放大器、傳感器、光電器件等。

　　光學(xué)器件樣品：激光二極管、光電二極管、光纖接收器、光纖放大器、光學(xué)調(diào)制器、光學(xué)濾波器等。

　　電子元件樣品：電阻器、電容器、電感器、變壓器、濾波器、開關(guān)、繼電器等。

　　傳感器樣品：溫度傳感器、壓力傳感器、光敏傳感器、加速度傳感器、聲音傳感器、濕度傳感器等。

相關(guān)儀器

　　半導(dǎo)體噪聲測(cè)試涉及的儀器設(shè)備包括：

　　器件噪聲測(cè)試儀器：噪聲分析儀、功率譜分析儀、噪聲系數(shù)測(cè)量?jī)x、噪聲功率測(cè)量?jī)x

　　器件非線性測(cè)試儀器：信號(hào)源、頻譜分析儀、功率譜分析儀、互調(diào)失真分析儀

　　器件功耗測(cè)試儀器：直流電源、功率分析儀、功率譜分析儀、功耗效率測(cè)量?jī)x

　　器件時(shí)鐘抖動(dòng)測(cè)試儀器：頻率計(jì)、頻譜分析儀、時(shí)鐘抖動(dòng)測(cè)量?jī)x、抖動(dòng)峰峰值測(cè)量?jī)x

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

　　BS EN 60749-16-2003 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第16部分:顆粒沖擊噪聲檢測(cè)(PIND)

　　CEI EN 60749-16-2005 半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.第16部分:粒子沖擊噪聲檢測(cè)(PIND).第一版

　　DIN EN 60749-16-2003 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第16部分:部分沖擊噪聲檢測(cè)(PIND)

　　GB/T 16850.3-2021 光放大器試驗(yàn)方法 第3部分：?jiǎn)尾ǖ拦夥糯笃髟肼晠?shù)

　　GOST 18986.23-1980 半導(dǎo)體穩(wěn)壓管 噪聲光譜密度測(cè)量方法

　　GOST 19656.5-1974 超高頻混頻和檢波半導(dǎo)體二極管 噪聲比測(cè)量方法

　　GOST 19656.6-1974 超高頻混頻半導(dǎo)體二極管 標(biāo)準(zhǔn)噪聲系數(shù)測(cè)量方法

　　IEC 60747-18-4-2023 半導(dǎo)體器件.第18-4部分：半導(dǎo)體生物傳感器.無(wú)透鏡CMOS光子陣列傳感器噪聲特性的評(píng)估方法

　　PNS IEC 60749-16-2013 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第16部分:部分沖擊噪聲檢測(cè)(PIND)

　　SJ/T 11846-2022 電壓調(diào)整器低頻噪聲參數(shù)測(cè)試方法

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