場發(fā)射掃描電子顯微鏡

2015-11-28 16:49:17 關(guān)鍵詞：場發(fā)射掃描電子顯微鏡相關(guān)：

摘要：該儀器具有超高分辨率，能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子象、反射電子象觀察及圖像處理。具有高性能x射線能譜儀，能同時(shí)進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)線面元素的定性、半定量及定

該儀器具有超高分辨率，能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子象、反射電子象觀察及圖像處理。具有高性能x射線能譜儀，能同時(shí)進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)線面元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化學(xué)組分綜合分析能力。

場發(fā)射掃描電子顯微鏡，廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機(jī)材料、無機(jī)材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。該儀器的較大特點(diǎn)是具備超高分辨掃描圖像觀察能力，尤其是采用較新數(shù)字化圖像處理技術(shù)，提供高倍數(shù)、高分辨掃描圖像，并能即時(shí)打印或存盤輸出，是納米材料粒徑測試和形貌觀察較有效儀器。也是研究材料結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系所不可缺少的重要工具。