掃描電子顯微鏡（FESEM-EDS測試）

2021-05-08 17:01:11 關(guān)鍵詞：FESEM-EDS測試相關(guān)：

摘要：掃描電子顯微鏡（FESEM-EDS測試）固體樣品的微觀形貌、結(jié)構(gòu)，樣品的微區(qū)元素成分、線分布、面分布，廣泛應用于納米技術(shù)、材料、物理、化學、環(huán)境科學等領(lǐng)域。塊體、粉末、磁性、生物樣品都適用；適合導電性不佳的樣品形貌觀察。

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儀器名稱	場發(fā)射超高分辨率掃描電鏡（FESEM）	型號	SEM (Tescan mira3 Zeiss sigma500) EDS (OxfordX-MAX)
檢測項目：	表面形貌觀察（磁性、非磁樣品、生物樣均可），EDS能譜（點掃、線掃、面掃），elements Mapp ing，EBSD
應用范圍：	固體樣品的微觀形貌、結(jié)構(gòu)，樣品的微區(qū)元素成分、線分布、面分布，廣泛應用于納米技術(shù)、材料、物理、化學、環(huán)境科學等領(lǐng)域。塊體、粉末、磁性、生物樣品都適用。適合導電性不佳的樣品形貌觀察。
制樣要求：	樣品尺寸要求：塊狀樣和生物樣，直徑小于26mm，高度小于15mm（樣品中不得含有水分）粉末樣>0.028 生物樣品需要提前制好樣，否則不予測試。