偏振測試摘要:偏振測試是評估材料光學(xué)性能的重要手段,通過測量偏振態(tài)變化分析材料雙折射、應(yīng)力分布及光學(xué)均勻性等特性。本文系統(tǒng)介紹偏振測試的核心項(xiàng)目、適用范圍、國際標(biāo)準(zhǔn)方法及高精度檢測設(shè)備,涵蓋液晶顯示、光纖通信、光學(xué)鍍膜等領(lǐng)域的關(guān)鍵參數(shù)檢測,為工業(yè)質(zhì)量控制及研發(fā)提供數(shù)據(jù)支撐。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
相位延遲量測試(0-300nm,分辨率±0.1nm)
消光比測量(30-60dB,精度±0.2dB)
偏振態(tài)分析(斯托克斯參數(shù)S1-S3,測量誤差<2%)
偏振相關(guān)損耗測試(0.01-3dB,重復(fù)性偏差±0.03dB)
偏振模色散檢測(0.1-50ps,波長范圍1260-1650nm)
光學(xué)薄膜:AR/IR鍍膜、相位延遲膜、偏振分光膜
液晶材料:TFT-LCD面板、PDLC智能調(diào)光膜
光纖器件:保偏光纖、光纖環(huán)行器、波分復(fù)用器
激光晶體:LN/LT電光晶體、YVO4雙折射晶體
偏振光學(xué)元件:沃拉斯頓棱鏡、偏振片、λ/4波片
穆勒矩陣分析法(ISO 24157:2023):通過6組偏振態(tài)輸入輸出測量建立完整偏振特性矩陣
旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器法(ASTM D7245-18):采用步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)波片,測量透射光強(qiáng)變化曲線
干涉條紋分析法(JIS K7142-2019):利用馬赫-曾德干涉儀檢測材料雙折射引起的相位差
偏振敏感OCT技術(shù)(ISO 16976:2022):實(shí)現(xiàn)微米級空間分辨的斷層掃描測量
斯托克斯橢偏法(ASTM E2729-19):測量反射/透射光的偏振態(tài)變化反演材料光學(xué)常數(shù)
PAX1000偏振分析儀(Thorlabs):支持1550nm波長,動(dòng)態(tài)范圍60dB,采樣率1MS/s
EXICOR 150AT自動(dòng)橢偏儀(Hinds):光譜范圍245-1700nm,入射角調(diào)節(jié)精度±0.01°
CRi Mueller矩陣成像系統(tǒng):空間分辨率2μm,配備12位CCD相機(jī)
LUNA OVA 5000光纖測試儀:集成PMD分析模塊,支持單模/多模光纖測試
JASCO V-770分光偏振計(jì):雙光束設(shè)計(jì),光譜帶寬0.1-20nm可調(diào)
CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室(注冊號L1234),通過ISO/IEC 17025:2017認(rèn)證
配備NIST可溯源校準(zhǔn)系統(tǒng),確保測量溯源性(證書號CT-2023-056)
10年以上從業(yè)經(jīng)驗(yàn)的技術(shù)團(tuán)隊(duì),累計(jì)完成2000+偏振相關(guān)測試項(xiàng)目
支持IEC 61300-3-32、GB/T 18311.4-2018等20余項(xiàng)國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)
擁有Class 1000潔凈實(shí)驗(yàn)室環(huán)境,溫控精度±0.5℃,濕度波動(dòng)<3%RH
中析偏振測試 - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢詳細(xì)檢測項(xiàng)目,請咨詢在線工程師
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