參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

表面粗糙度檢測：采用非接觸式白光干涉儀測量Ra值（≤0.05μm），Sa三維表面粗糙度參數(shù)≤0.08μm

球面圓度誤差分析：三坐標(biāo)測量機(jī)（CMM）檢測球面輪廓偏差，允許最大圓度誤差≤0.02mm

尺寸公差驗(yàn)證：內(nèi)徑公差±0.005mm，外徑公差±0.008mm，同心度≤0.015mm

維氏硬度測試：載荷0.5kgf，檢測范圍HV0.5 200-900，壓痕對角線測量精度±0.2μm

微觀組織評價(jià)：金相顯微鏡觀察晶粒度等級≥8級（ASTM E112），非金屬夾雜物評級≤1.5級（ISO 4967）

檢測范圍

奧氏體不銹鋼套管：316L/304材質(zhì)，醫(yī)療及食品加工設(shè)備用

鈦合金精密套管：Ti-6Al-4V ELI級，航空航天液壓系統(tǒng)組件

氧化鋯陶瓷套管：Y?O?穩(wěn)定型，半導(dǎo)體制造傳輸部件

硬質(zhì)合金復(fù)合套管：WC-Co基體，石油勘探鉆具配件

高分子改性套管：PEEK-GF30增強(qiáng)材料，核工業(yè)耐輻射部件

檢測方法

輪廓儀法：依據(jù)ISO 4287使用接觸式探針測量表面波紋度，采樣長度0.8mm，評定長度4mm

激光衍射法：按ASTM B822進(jìn)行粒度分布檢測，測量范圍0.1-500μm，重復(fù)性誤差＜1%

X射線熒光法：遵循ISO 3497測定鍍層厚度，檢測精度±0.05μm，元素分析范圍Na-U

超聲波探傷：執(zhí)行ASME V Article 4標(biāo)準(zhǔn)，探頭頻率5MHz，缺陷檢出靈敏度Φ0.4mm平底孔

熱震試驗(yàn)：參照MIL-STD-883G方法1011，溫度循環(huán)范圍-196℃至300℃，循環(huán)次數(shù)≥50次

檢測設(shè)備

Taylor Hobson PGI 3840表面輪廓儀：垂直分辨率0.1nm，最大掃描長度120mm

Mitutoyo Crysta-Apex S 三坐標(biāo)測量機(jī)：空間精度(1.8+L/250)μm，探測誤差≤0.5μm

Bruker D8 ADVANCE X射線衍射儀：2θ角度范圍0-160°，最小步長0.0001°

Instron 8862電子萬能試驗(yàn)機(jī)：載荷范圍±100kN，位移分辨率0.003μm

Zeiss Axio Imager.M2m金相顯微鏡：物鏡NA值0.95，數(shù)碼相機(jī)分辨率2580×1944像素

技術(shù)優(yōu)勢

CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室（注冊號L1234）：通過ISO/IEC 17025體系認(rèn)證，檢測報(bào)告國際互認(rèn)

標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)溯源體系：NIST標(biāo)樣覆蓋率100%，設(shè)備校準(zhǔn)周期≤3個(gè)月

跨學(xué)科檢測團(tuán)隊(duì)：12名高級工程師平均從業(yè)年限15年，含3名ASNT III級人員

數(shù)字化管理系統(tǒng)：檢測數(shù)據(jù)自動采集，原始記錄存儲周期≥10年

特殊環(huán)境模擬能力：具備-269℃液氦溫區(qū)至1200℃高溫檢測條件

中析儀器 資質(zhì)