參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

化學(xué)成分分析：銅含量≥99.90%，雜質(zhì)元素總量≤0.03%（含氧量≤15ppm，磷≤0.002%）

力學(xué)性能測(cè)試：抗拉強(qiáng)度220-260MPa，延伸率≥35%，維氏硬度HV 65-85

導(dǎo)電率檢測(cè)：IACS標(biāo)準(zhǔn)≥98%，電阻率≤0.01724 Ω·mm2/m

微觀組織檢驗(yàn)：晶粒度級(jí)別8-12級(jí)，孿晶比例≤5%，夾雜物評(píng)級(jí)B類≤1.5級(jí)

表面質(zhì)量評(píng)估：粗糙度Ra≤1.6μm，氧化層厚度≤3μm，裂紋深度≤0.1mm

檢測(cè)范圍

電力傳輸用低氧銅桿（Φ8mm-Φ20mm）

電磁線坯料銅桿（TU1/TU2牌號(hào)）

軌道交通接觸網(wǎng)銅合金桿材

電子連接件用高精度銅桿（±0.05mm公差）

特種設(shè)備用鍍錫銅基材

檢測(cè)方法

ASTM E8/E8M：室溫拉伸試驗(yàn)（應(yīng)變速率0.005-0.015mm/mm·min）

ISO 6506-1：顯微硬度測(cè)試（載荷1kgf，保載時(shí)間15s）

ASTM E112：晶粒度測(cè)定（截距法，500倍金相顯微鏡）

IEC 60468：電阻率四探針法（恒流源精度±0.05%）

ASTM E3-11：金相試樣制備（電解拋光電壓20V，時(shí)間30s）

檢測(cè)設(shè)備

Instron 5985萬能材料試驗(yàn)機(jī)：載荷范圍0.4kN-300kN，應(yīng)變測(cè)量精度±0.5%

Olympus GX71金相顯微鏡：5000萬像素CCD，景深擴(kuò)展功能

SPECTRO MAXx光譜儀：檢出限達(dá)0.0001%，波長(zhǎng)范圍140-670nm

Keysight 34465A數(shù)字萬用表：六位半分辨率，0.0035%基本直流精度

Taylor Hobson表面輪廓儀：縱向分辨率0.8nm，可測(cè)曲率半徑≥2mm

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室（注冊(cè)號(hào)L1234），檢測(cè)報(bào)告國(guó)際互認(rèn)

配備ISO/IEC 17025認(rèn)證的質(zhì)量管理體系

擁有ASTM/ISO標(biāo)準(zhǔn)授權(quán)實(shí)驗(yàn)資質(zhì)，設(shè)備年度校準(zhǔn)溯源至NIST

專業(yè)團(tuán)隊(duì)含3名MT/PT三級(jí)檢測(cè)師，年均完成2000+銅材檢測(cè)案例

支持非標(biāo)檢測(cè)方案定制，數(shù)據(jù)重復(fù)性誤差≤1.2%

中析儀器 資質(zhì)