參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

釩含量測定：采用ICP-OES法，檢測范圍0.01%-99.9%，分辨率±0.02%

晶體結(jié)構(gòu)分析：XRD檢測晶型純度，角度范圍5°-80°(2θ)，步長0.02°

雜質(zhì)元素檢測：涵蓋Fe、Al、Si等12種雜質(zhì)，ICP-MS檢測限達(dá)0.1ppm

熱重分析（TGA）：測定分解溫度與失重率，溫度范圍RT-1000℃，升溫速率5℃/min

粒度分布測試：激光衍射法檢測D10-D90分布，測量范圍0.1-2000μm

檢測范圍

化工級偏釩酸銨原料（純度≥99.5%）

SCR脫硝催化劑前驅(qū)體材料

釩電池電解液制備中間體

特種陶瓷燒結(jié)助劑

冶金行業(yè)合金添加劑

檢測方法

ASTM E1479：電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法測定金屬雜質(zhì)

ISO 20203：X射線衍射法定性分析晶體結(jié)構(gòu)

GB/T 223.5：過硫酸銨氧化滴定法測定釩含量

ISO 11358：熱重分析法測定材料熱穩(wěn)定性

ISO 13320：激光衍射法測定顆粒尺寸分布

檢測設(shè)備

Thermo Scientific iCAP 7400：徑向觀測ICP-OES，配備CID86檢測器，實(shí)現(xiàn)多元素同步分析

Malvern Mastersizer 3000：干濕法兩用粒度儀，具備Hydro EV分散模塊

PANalytical X'Pert3 Powder：高分辨XRD，配置PIXcel3D探測器，掃描速度5000步/秒

Mettler Toledo TGA/DSC 3+：同步熱分析儀，溫度精度±0.1℃

Agilent 7900 ICP-MS：三重四極桿質(zhì)譜，檢測下限達(dá)ppt級

技術(shù)優(yōu)勢

獲得CNAS（注冊號L1234）和CMA（編號2023A001）雙認(rèn)證資質(zhì)

配備十萬級潔凈實(shí)驗(yàn)室，溫控精度±0.5℃，濕度波動(dòng)≤3%RH

ICP-OES配備矩陣校正算法，可消除釩基體干擾效應(yīng)

XRD數(shù)據(jù)庫含ICSD、PDF-4+等12萬種標(biāo)準(zhǔn)譜圖

檢測方法通過ISO/IEC 17025:2017標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)證，數(shù)據(jù)國際互認(rèn)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)