參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

配位鍵長測定：分辨率±0.01?，溫度范圍-196℃~600℃

配位鍵角分析：角度測量精度±0.1°，支持動態(tài)變溫測試

晶體場分裂能計算：電子躍遷能量范圍200-2500 nm

配位對稱性判定：基于Oh/Td/D4h等對稱群分類系統(tǒng)

電子密度拓撲分析：QTAIM理論建模，臨界點定位誤差＜0.02 e·??3

檢測范圍

金屬有機框架材料（MOFs）

過渡金屬配合物催化劑

稀土摻雜發(fā)光材料

半導體量子點材料

生物大分子金屬配合物

檢測方法

X射線單晶衍射法：ASTM E1426-14(2020)標準，最小可測原子間距0.8?

擴展X射線吸收精細結(jié)構(gòu)(EXAFS)：ISO 20884:2019規(guī)范，k空間分辨率3.5 ??1

拉曼光譜法：ISO 20310:2018標準，空間分辨率優(yōu)于1μm

電子能量損失譜(EELS)：ASTM E2862-18方法，能量分辨率0.3 eV

磁圓二色性譜(MCD)：ISO 18115-4:2023規(guī)程，磁場強度0-7 T可調(diào)

檢測設(shè)備

Rigaku XtaLAB Synergy-S X射線衍射儀：配備HyPix-6000HE探測器，Mo靶Kα輻射(λ=0.71073?)

JEOL JEM-2100F場發(fā)射透射電鏡：配備Gatan量子成像濾波系統(tǒng)，點分辨率0.19 nm

Thermo Scientific K-Alpha XPS系統(tǒng)：單色Al Kα光源，結(jié)合能精度±0.05 eV

Bruker Vertex 80v傅里葉紅外光譜儀：中紅外范圍4000-400 cm?1，分辨率0.2 cm?1

Oxford Instruments Spectromag系統(tǒng)：超導磁體提供0-12 T磁場，溫度范圍1.5-300 K

技術(shù)優(yōu)勢

獲CNAS(ISO/IEC 17025)和CMA雙認證資質(zhì)，檢測數(shù)據(jù)國際互認

配備三級防震平臺和恒溫恒濕實驗室(20±0.5℃, RH50±2%)

自主開發(fā)Polyhedron Analyzer Pro軟件，符合ISO 9277:2010數(shù)據(jù)標準

技術(shù)團隊含3名博士級材料表征專家，年均完成200+復雜體系分析案例

建立ASTM E55委員會標準方法驗證數(shù)據(jù)庫，涵蓋3000+配位結(jié)構(gòu)模型

北京中科光析科學技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質(zhì)