參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。

檢測項目

波長范圍覆蓋度：200-900nm全波段檢測，精度±0.02nm

光譜分辨率：≤0.01nm@Hg 313.16nm（FWHM）

檢出限評估：Cd 228.80nm ≤0.05μg/L

重復性誤差：RSD＜1.5%（10次連續(xù)測試）

線性相關系數：標準曲線R2≥0.9995

檢測范圍

金屬材料：鋁合金（AA6061）、不銹鋼（304/316L）、鈦合金（Ti-6Al-4V）

半導體材料：單晶硅片（摻雜濃度1e15-1e20 atoms/cm3）、GaN外延層

環(huán)境樣品：工業(yè)廢水（Cr6+、Pb2+、Hg2+）、土壤重金屬（Cd、As）

醫(yī)藥成分：注射液中Na/K/Ca離子濃度（0.1-100mmol/L）

食品添加劑：防腐劑苯甲酸（0.01-5g/kg）、甜味劑糖精鈉

檢測方法

ASTM E305-21：建立控制樣品標準化程序

ISO 14707:2015：輝光放電光譜法表面分析

GB/T 4336-2016：碳素鋼和中低合金鋼火花源原子發(fā)射光譜法

ISO 11885:2007：水質-電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法

GB/T 20975.25-2020：鋁及鋁合金化學分析方法-第25部分：發(fā)射光譜法

檢測設備

Thermo Fisher iCAP Pro X ICP-OES：軸向觀測模式，檢測限達ppt級

PerkinElmer PinAAcle 900T原子吸收光譜儀：火焰/石墨爐雙模式

Bruker S8 TIGER波長色散X射線熒光光譜儀：4kW Rh靶超尖銳X光管

Agilent 8900 ICP-MS/MS：串聯質譜模式消除多原子干擾

Horiba Jobin Yvon Ultima 2電感耦合等離子體光譜儀：0.55m焦距光柵

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質