平面行波檢測(cè)摘要:平面行波檢測(cè)是評(píng)估電磁波在介質(zhì)或材料中傳播特性的關(guān)鍵技術(shù),廣泛應(yīng)用于高頻電子器件、微波材料及通信設(shè)備的質(zhì)量控制。本文系統(tǒng)闡述檢測(cè)核心項(xiàng)目、適用材料范圍、標(biāo)準(zhǔn)化方法及關(guān)鍵設(shè)備,重點(diǎn)關(guān)注傳播參數(shù)、信號(hào)衰減、反射特性等核心指標(biāo),為工程驗(yàn)證與科研分析提供技術(shù)依據(jù)。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
傳播速度:測(cè)量平面行波在介質(zhì)中的相速(單位:m/s,精度±0.5%)
衰減系數(shù):頻率范圍1MHz-40GHz,動(dòng)態(tài)范圍≥60dB
駐波比(VSWR):測(cè)試頻段覆蓋0.5-18GHz,分辨率0.01
相位穩(wěn)定性:溫度范圍-40℃~+85℃下的相位偏移量(±0.1°)
頻率響應(yīng):掃頻測(cè)試帶寬100kHz-50GHz,步進(jìn)精度1Hz
微波介質(zhì)基板:ROGERS RT/duroid系列、Taconic RF-35
金屬?gòu)?fù)合材料:鋁基覆銅板、鈦合金波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件
高頻電路板:PTFE基板、陶瓷填充聚合物基板
吸波材料:鐵氧體片、碳基復(fù)合材料
天線罩材料:石英纖維增強(qiáng)復(fù)合材料、芳綸蜂窩夾層結(jié)構(gòu)
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):
ASTM D5568-22:高頻電路基板傳播特性測(cè)試
ISO 11443:2020:電磁波傳輸介質(zhì)衰減測(cè)量規(guī)范
IEC 61189-3-719:2021:微波材料介電性能測(cè)試
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 17737.1-2018:同軸通信電纜電性能試驗(yàn)方法
GB/T 17626.10-2017:電磁兼容傳導(dǎo)騷擾測(cè)量
GB 9254-2008:信息技術(shù)設(shè)備無線電騷擾限值
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀:Keysight N5222B(10MHz-26.5GHz,S參數(shù)測(cè)量)
微波信號(hào)源:Rohde & Schwarz SMA100B(頻率范圍8kHz-20GHz)
時(shí)域反射計(jì):Tektronix DSA8300(采樣率100GSa/s,上升時(shí)間15ps)
微波暗室:ETS-Lindgren Model 2080(頻率范圍30MHz-40GHz)
高溫測(cè)試系統(tǒng):Thermotron SM-32C(溫控精度±0.5℃)
精密定位系統(tǒng):NSI-MI 700S-20(位移精度±5μm)
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
中析平面行波檢測(cè) - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師
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