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屏蔽系數(shù)檢測(cè)

2025-02-26 關(guān)鍵詞:屏蔽系數(shù)測(cè)試范圍,屏蔽系數(shù)測(cè)試案例,屏蔽系數(shù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 相關(guān):
屏蔽系數(shù)檢測(cè)

屏蔽系數(shù)檢測(cè)摘要:屏蔽系數(shù)檢測(cè)是評(píng)估材料或產(chǎn)品電磁屏蔽性能的關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo),涉及導(dǎo)電性、介電常數(shù)等核心參數(shù)。本文系統(tǒng)闡述檢測(cè)項(xiàng)目、適用范圍、方法標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)備配置,重點(diǎn)解析ASTM、ISO、GB/T等標(biāo)準(zhǔn)體系下的檢測(cè)規(guī)范,適用于電子元器件、航空航天材料等領(lǐng)域的質(zhì)量控制。

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

導(dǎo)電性能檢測(cè):表面電阻率(0.01-100 S/m)

電磁屏蔽效能:頻率范圍(10MHz-40GHz)

材料厚度測(cè)量:精度±0.1μm

介電常數(shù)測(cè)試:1-100GHz頻段

磁導(dǎo)率分析:靜態(tài)磁場(chǎng)強(qiáng)度0.1-10T

屏蔽均勻性評(píng)估:三維場(chǎng)強(qiáng)分布偏差≤5%

檢測(cè)范圍

金屬基復(fù)合材料:鋁合金屏蔽殼體、銅鎳合金箔

導(dǎo)電高分子材料:聚苯胺復(fù)合材料、碳纖維增強(qiáng)塑料

電磁屏蔽織物:鍍銀纖維織物、鍍銅尼龍布

電子元器件:PCB電磁屏蔽罩、連接器屏蔽層

建筑屏蔽材料:導(dǎo)電混凝土、金屬網(wǎng)格屏蔽墻

檢測(cè)方法

ASTM D4935-18:平面材料電磁屏蔽效能測(cè)試

ISO 1853:2018:導(dǎo)電橡膠體積電阻率測(cè)定

GB/T 30142-2013:平面型電磁屏蔽材料屏蔽效能

IEC 62333-2:2006:電子設(shè)備用屏蔽材料衰減特性

GB 12190-2006:電磁屏蔽室屏蔽效能測(cè)量

ASTM E1851-15:材料磁導(dǎo)率渦流檢測(cè)法

檢測(cè)設(shè)備

Keysight N5221B矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀:10MHz-43.5GHz頻段屏蔽效能測(cè)試

Agilent 4338B毫歐表:10μΩ-100kΩ電阻測(cè)量

Loresta-GX MCP-T700四探針測(cè)試儀:10^-3-10^6Ω/sq表面電阻率檢測(cè)

ETS-Lindgren 2450/2451屏蔽效能測(cè)試系統(tǒng):30MHz-18GHz三維場(chǎng)強(qiáng)分析

Lake Shore 8600系列振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì):DC-1MHz磁導(dǎo)率測(cè)試

Olympus Omniscan MX2超聲波測(cè)厚儀:0.1-500mm材料厚度測(cè)量

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析屏蔽系數(shù)檢測(cè) - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師

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