參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

氧化物夾雜物分析：Al?O?、SiO?含量檢測，尺寸范圍0.5-50μm

硫化物夾雜物檢測：MnS、FeS夾雜密度（0.1-5.0個/mm2）

氮化物夾雜評估：TiN、AlN顆粒分布（粒徑≤10μm）

孔隙率測定：孔隙尺寸0.1-200μm，體積占比≤0.5%

微觀裂紋檢測：裂紋長度≥2μm，深度方向定位誤差±0.1μm

檢測范圍

金屬材料：碳鋼、不銹鋼、鋁合金（ASTM A480/A480M）

焊接接頭：焊縫熔合區(qū)夾雜物（ISO 17635）

鑄造件：球墨鑄鐵、鑄鋼件（GB/T 9441）

高溫合金：鎳基合金、鈦合金（AMS 2280）

涂層/鍍層：熱浸鍍鋅層、PVD涂層（ISO 1463）

檢測方法

金相分析法：ASTM E45（夾雜物評級）、GB/T 10561（鋼中非金屬夾雜物）

掃描電鏡-能譜聯(lián)用（SEM-EDS）：ISO 4967（定量分析）

X射線斷層掃描（μ-CT）：ASTM E1441（三維缺陷重建）

超聲波探傷：GB/T 7734（近表面夾雜檢測）

電解萃取法：ISO 14284（夾雜物分離與成分測定）

檢測設(shè)備

金相顯微鏡：奧林巴斯BX53M，配備Image-Pro Plus分析軟件，分辨率0.1μm

場發(fā)射掃描電鏡：蔡司Sigma 500，能譜儀Oxford X-Max 80，加速電壓0.1-30kV

X射線斷層掃描儀：布魯克Skyscan 1272，空間分辨率0.5μm

超聲波探傷儀：奧林巴斯EPOCH 650，頻率范圍0.5-30MHz

電解萃取裝置：LaboSystem 1000，電流精度±0.1mA，溫度控制±1℃

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)