計數(shù)能譜計檢測摘要:計數(shù)能譜計檢測是通過分析樣品受激發(fā)射的特征X射線能量及強度,實現(xiàn)元素定性與定量分析的技術(shù)。檢測需關(guān)注能量分辨率、峰背比、元素檢出限等核心參數(shù),適用于金屬、半導(dǎo)體、環(huán)境樣品等領(lǐng)域。本文依據(jù)ASTM、ISO、GB/T等標準,系統(tǒng)闡述檢測項目、方法及設(shè)備選型,確保數(shù)據(jù)準確性與合規(guī)性。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
元素種類及含量檢測:覆蓋原子序數(shù)Z≥5(硼及以上)元素,含量范圍0.01%~100%
能量分辨率測試:全譜半高寬(FWHM)≤130eV(Mn Kα線,5.9keV)
峰背比分析:目標元素特征峰與背景信號強度比≥100:1
檢測限驗證:最低檢出濃度≤0.01wt%(輕元素)或≤0.005wt%(重元素)
穩(wěn)定性測試:連續(xù)8小時工作期間,能量漂移≤±2eV
金屬材料:鋁合金、鈦合金、高溫合金中的主量/痕量元素分析
半導(dǎo)體器件:硅晶圓摻雜元素(磷、砷等)分布檢測
環(huán)境樣品:土壤/水體中重金屬(鉛、汞、鎘等)污染評估
生物醫(yī)學(xué)樣品:骨骼/牙齒中鈣磷比測定,植入物成分驗證
地質(zhì)礦物:稀土元素(鑭系)賦存狀態(tài)與含量分析
ASTM E1508-20:標準能譜儀校準與數(shù)據(jù)采集規(guī)程
ISO 15632:2021:微束分析-能譜儀性能參數(shù)測試方法
GB/T 17359-2023:微束分析能譜法定量分析通則
GB/T 19500-2023:X射線光電子能譜分析方法通則
IEC 62462:2019:能譜儀系統(tǒng)穩(wěn)定性驗證技術(shù)規(guī)范
Thermo Fisher Scientific NORAN System 7:配備硅漂移探測器(SDD),能量分辨率≤123eV,支持Mapping面分布分析
Bruker QUANTAX 200:集成脈沖處理器(DPP),最大輸入計數(shù)率≥500kcps,支持無窗膜輕元素檢測
Oxford Instruments X-MaxN 80:80mm2探測器有效面積,配備AztecLive實時成分分析系統(tǒng)
HORIBA EMAX Evolution:搭載多通道分析儀(MCA),支持同步能譜與波譜聯(lián)用
JEOL JED-2300:集成自動準直系統(tǒng),束斑尺寸可調(diào)范圍10nm~1μm
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。
非標測試:支持定制化試驗方案。
售后:報告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
中析計數(shù)能譜計檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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