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宏彎損耗檢測

2025-03-12 關(guān)鍵詞:宏彎損耗測試儀器,宏彎損耗測試案例,宏彎損耗測試范圍 相關(guān):
宏彎損耗檢測

宏彎損耗檢測摘要:宏彎損耗檢測是評估光纖、光纜及柔性材料在彎曲狀態(tài)下光信號衰減特性的關(guān)鍵測試項目,直接影響通信系統(tǒng)可靠性和壽命。檢測核心參數(shù)包括彎曲半徑、溫度范圍、循環(huán)次數(shù)及衰減變化量,需依據(jù)ISO、IEC、GB/T等標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。本文系統(tǒng)闡述檢測項目、適用材料、方法標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)備選型要點。

參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

最小彎曲半徑測試:1.5mm至50mm(依材料類型調(diào)整)

彎曲循環(huán)次數(shù)測試:10^3至10^6次(正弦/隨機(jī)波形)

彎曲衰減變化量:≤0.1dB至3.0dB(1310nm/1550nm波長)

溫度循環(huán)彎曲測試:-40℃至+85℃(符合GR-20標(biāo)準(zhǔn))

動態(tài)彎曲應(yīng)力分布:0.5GPa至2.5GPa(光纖涂層界面)

檢測范圍

單模/多模光纖:G.652D、OM3/OM4等通信光纖

軍用野戰(zhàn)光纜:抗拉強度≥500N,彎曲半徑≤20mm

柔性光電復(fù)合纜:彎曲壽命≥10^5次(機(jī)器人應(yīng)用)

紫外固化涂層材料:厚度50-250μm,彈性模量≥2MPa

醫(yī)用光纖導(dǎo)管:彎曲半徑≤3mm(內(nèi)窺鏡應(yīng)用場景)

檢測方法

ASTM D4565-15:光纜機(jī)械性能標(biāo)準(zhǔn)測試方法

ISO/IEC 60793-1-47:光纖宏彎損耗篩選試驗

GB/T 15972.47-2021:光纖試驗方法-彎曲損耗

IEC 61300-3-52:動態(tài)彎曲試驗(旋轉(zhuǎn)鼓法)

TIA-455-184:光纜彎曲疲勞試驗程序

檢測設(shè)備

EXFO FTB-500光時域反射儀:分辨率0.001dB,支持雙向測試

Keysight 8164B光波測量系統(tǒng):波長范圍1270-1650nm

Viavi MTS-8000全功能測試平臺:集成OTDR與光功率計

Bending Fixture BMF-100:半徑精度±0.02mm,壓力控制0-50N

ESPEC PCT-320溫循箱:變溫速率15℃/min,濕度范圍10-98%RH

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試:支持定制化試驗方案。

售后:報告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析宏彎損耗檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細(xì)檢測項目,請咨詢在線工程師

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