參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

粒徑分布（D10/D50/D90值，體積基準(zhǔn)分布曲線）

最大粒徑（單顆粒最大線性尺寸，閾值＞500μm）

顆粒形貌（長(zhǎng)徑比＞3:1的異形顆粒占比）

堆積密度（松裝密度與振實(shí)密度差值＞0.4g/cm3）

粒度均勻性（Span值＞1.5的分布寬度指數(shù)）

檢測(cè)范圍

金屬粉末：鈦合金粉、不銹鋼粉、鈷鉻合金粉等增材制造原料

陶瓷原料：氧化鋁、碳化硅、氮化硅等燒結(jié)前驅(qū)體

化工顆粒：催化劑載體、分子篩、樹(shù)脂顆粒等

制藥輔料：微晶纖維素、乳糖顆粒等固體制劑原料

建筑材料：水泥熟料、石英砂、膨脹珍珠巖等

檢測(cè)方法

激光衍射法：ASTM B822-20、ISO 13320:2020、GB/T 19077-2016

動(dòng)態(tài)圖像分析法：ISO 13322-2:2021、GB/T 21649.2-2017

篩分法：ASTM E11-20、ISO 3310-1:2016、GB/T 6003.1-2012

顯微圖像法：ISO 13322-1:2014、GB/T 15445.6-2014

X射線沉降法：ISO 13317-3:2001、GB/T 5162-2021

檢測(cè)設(shè)備

馬爾文 Mastersizer 3000：激光衍射粒度儀，量程0.01-3500μm

霍尼韋爾 CAMSIZER X2：動(dòng)態(tài)圖像分析系統(tǒng)，分辨率0.5μm

羅姆泰克 Air Jet Sieve：氣流篩分儀，篩網(wǎng)尺寸20-4000目

日立 SU5000：場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，放大倍數(shù)20-100萬(wàn)倍

堀場(chǎng) LA-960V2：納米粒度分析儀，Zeta電位測(cè)量功能

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)