參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

元素組成分析（波長范圍：200-900nm，檢測限：0.1ppm）

分子結(jié)構(gòu)表征（波數(shù)范圍：400-4000cm?1，分辨率≤2cm?1）

表面成分測定（深度分辨率：0.5-5nm，空間分辨率≤1μm）

光學性能檢測（透過率精度±0.5%，反射率重復性≤1%）

痕量污染物分析（檢測限：ppb級，RSD＜3%）

檢測范圍

金屬材料：鋁合金成分分析，不銹鋼表面氧化層檢測

半導體器件：硅片摻雜濃度測定，GaN薄膜厚度檢測

生物醫(yī)藥：蛋白質(zhì)二級結(jié)構(gòu)分析，藥物晶型鑒定

環(huán)境監(jiān)測：水體重金屬檢測，大氣VOCs分析

化學品：聚合物官能團識別，溶劑純度驗證

檢測方法

X射線熒光光譜法：ASTM E1252，GB/T 16597

傅里葉變換紅外光譜：ISO 18473，GB/T 6040

拉曼光譜分析：ISO 20328，GB/T 36064

紫外可見分光光度法：ISO 4787，GB/T 9721

電感耦合等離子體光譜：ASTM D1976，GB/T 21191

檢測設(shè)備

PerkinElmer Spectrum Two：傅里葉紅外光譜儀，檢測范圍7800-350cm?1

Thermo Scientific Nicolet iS50：顯微拉曼系統(tǒng)，激光波長532/785nm

Shimadzu EDX-7000：能量色散X熒光儀，元素范圍Na-U

Agilent 5100 ICP-OES：等離子體發(fā)射光譜儀，檢出限0.01-10ppm

Bruker SENTERRA II：共聚焦顯微拉曼，空間分辨率0.8μm

北京中科光析科學技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質(zhì)