參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

邊緣尺寸偏差檢測(cè)：公差范圍±0.05mm~±0.5mm（依據(jù)材料厚度）

毛刺高度測(cè)量：閾值0.01mm~0.2mm（光學(xué)顯微鏡或激光掃描）

裂紋/缺口深度分析：檢測(cè)精度0.005mm（滲透檢測(cè)或顯微CT）

表面粗糙度評(píng)估：Ra值0.1μm~6.3μm（觸針式輪廓儀）

邊緣角度偏差檢測(cè)：角度公差±0.5°~±2°（三維坐標(biāo)測(cè)量機(jī)）

檢測(cè)范圍

金屬材料：鋁合金沖壓件、不銹鋼板材、銅合金管材

塑料制品：注塑成型外殼、擠出型材、吹塑容器

復(fù)合材料：碳纖維層壓板、玻璃鋼構(gòu)件、蜂窩夾芯結(jié)構(gòu)

橡膠制品：密封圈模切件、傳送帶邊緣、輪胎胎側(cè)

陶瓷基材：電子基板切割邊、高溫?zé)Y(jié)結(jié)構(gòu)件

檢測(cè)方法

ASTM E290：材料彎曲邊緣延展性測(cè)試方法

ISO 8512-1：金屬薄板邊緣毛刺高度測(cè)定規(guī)范

GB/T 15822.2：無(wú)損檢測(cè)-磁粉檢測(cè)第2部分：邊緣缺陷判定

ISO 4287：表面粗糙度參數(shù)定義與測(cè)量程序

GB/T 1804-2000：一般公差未注公差的線性和角度尺寸

檢測(cè)設(shè)備

Mitutoyo CRYSTA-Apex S系列：三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，分辨率0.1μm，支持復(fù)雜曲面重構(gòu)

Keyence VHX-7000數(shù)字顯微鏡：5000倍光學(xué)放大，3D表面形貌分析

Taylor Hobson Form Talysurf i-Series：觸針式輪廓儀，Ra測(cè)量范圍0.01μm~50μm

Olympus Omniscan MX2超聲探傷儀：0.5-30MHz頻寬，裂紋深度檢測(cè)精度±0.01mm

Zeiss METROTOM 1500工業(yè)CT：微焦點(diǎn)X射線，三維缺陷可視化重建

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)