參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

導(dǎo)線直徑測量：公差范圍±0.005mm，精度等級0.5μm

絕緣層厚度檢測：覆蓋層偏差≤±3%，最小分辨率0.1μm

槽內(nèi)填充密度分析：目標(biāo)值≥85%，三維空間分布誤差±1.2%

繞組排列緊實度測試：軸向壓力閾值50-200N，位移量≤0.15mm

導(dǎo)體截面形狀偏差：橢圓度誤差≤2%，邊緣毛刺高度＜10μm

檢測范圍

漆包銅線：直徑0.1-5.0mm，耐溫等級130-240℃

云母帶絕緣繞組：厚度0.08-0.25mm，擊穿電壓≥6kV/mm

聚酯亞胺復(fù)合絕緣線：導(dǎo)體截面積0.5-50mm2，耐化學(xué)腐蝕等級Class H

芳綸紙層壓制品：密度1.3-1.45g/cm3，熱收縮率≤0.5%

納米晶帶材繞組：厚度0.02-0.05mm，磁導(dǎo)率≥80000

檢測方法

ASTM B258-18：導(dǎo)體直徑測量規(guī)范

GB/T 4074.2-2021：繞組線試驗方法 第2部分：尺寸測量

IEC 60851-5:2016：繞組線絕緣連續(xù)性檢測規(guī)程

ISO 21968:2017：非晶合金帶材填充特性測試

GB/T 20141-2018：層壓絕緣材料緊密度評估標(biāo)準(zhǔn)

檢測設(shè)備

Mitutoyo千分尺系列293-340：分辨率0.1μm，測量力0.5-1.5N

Keyence激光測厚儀LJ-G5000：掃描速度10kHz，Z軸精度±0.05μm

ZEISS三坐標(biāo)測量機(jī)CONTURA G2：空間精度1.8+L/300μm，探測誤差≤0.5μm

Olympus DSX1000數(shù)碼顯微鏡：2000倍光學(xué)放大，3D表面重構(gòu)功能

Instron 5944材料試驗機(jī)：載荷范圍0-50kN，位移分辨率0.001mm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)