參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

幾何尺寸精度檢測(cè)：長(zhǎng)軸（20-200mm±0.05mm）、短軸（10-150mm±0.03mm）、曲率半徑偏差（≤±2%）

表面粗糙度檢測(cè)：Ra≤1.6μm，Rz≤6.3μm（按ISO 4287評(píng)定）

孔型輪廓度檢測(cè)：整體輪廓公差±0.1mm（按GB/T 1958-2017評(píng)定）

材料厚度一致性檢測(cè)：壁厚公差±0.05mm（適用于0.5-10mm厚度范圍）

孔徑位置偏差檢測(cè)：中心距公差±0.02mm（基準(zhǔn)孔距100-500mm范圍）

檢測(cè)范圍

高強(qiáng)度合金材料（鈦合金TC4、鋁合金7075等）

碳纖維增強(qiáng)復(fù)合材料（CFRP層壓板）

精密注塑成型聚合物件（PEEK、PC等工程塑料）

高溫陶瓷基復(fù)合材料（SiC/SiC）

建筑用鋼結(jié)構(gòu)連接件（Q355B/Q460C材質(zhì)）

檢測(cè)方法

ASTM E3-11：金相試樣制備與材料厚度測(cè)定

ISO 9013:2017：熱切割件尺寸公差檢測(cè)規(guī)范

GB/T 1800.1-2020：產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（GPS）基礎(chǔ)公差

GB/T 11345-2013：焊縫無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè)技術(shù)

ASTM E1255-16：數(shù)字射線檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)方法

檢測(cè)設(shè)備

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)（Mitutoyo Crysta-Apex S 系列）：空間測(cè)量精度±(1.8+L/250)μm

白光干涉輪廓儀（Zygo NewView 9000）：垂直分辨率0.1nm，XY掃描范圍200×200mm

超聲波探傷儀（Olympus EPOCH 650）：頻率范圍0.5-30MHz，帶64GB數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

X射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)（YXLON FF35 CT）：檢測(cè)精度2μm，最大穿透鋼厚度50mm

金相顯微鏡（Leica DM2700 M）：5000:1動(dòng)態(tài)聚焦，帶激光共聚焦模塊

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)