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半徑損耗檢測

2025-03-17 關(guān)鍵詞:半徑損耗測試案例,半徑損耗測試周期,半徑損耗測試標(biāo)準(zhǔn) 相關(guān):
半徑損耗檢測

半徑損耗檢測摘要:半徑損耗檢測是評估材料或產(chǎn)品在加工、使用過程中幾何精度損失的關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo),主要針對曲率半徑偏差、表面完整性及形變程度進(jìn)行量化分析。核心檢測參數(shù)包括曲率半徑允許公差、過渡區(qū)平滑度及微觀形貌特征等,適用于金屬管材、精密模具等高精度制造領(lǐng)域的質(zhì)量控制。

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項(xiàng)目

曲率半徑偏差:允許公差±0.05mm~±0.5mm

表面粗糙度:Ra≤0.8μm~Ra≤3.2μm

圓度誤差:≤IT7級公差等級

過渡區(qū)平滑度:R角連接處輪廓波動≤5μm

材料厚度變化率:壁厚減薄量≤原始尺寸的8%

檢測范圍

金屬管材(不銹鋼/鈦合金/鋁合金)

塑料注塑件(PC/ABS/POM)

陶瓷絕緣件(氧化鋁/氮化硅)

復(fù)合材料結(jié)構(gòu)件(CFRP/GFRP)

橡膠密封件(EPDM/FKM)

檢測方法

ASTM E177-14:幾何公差測量不確定度評定方法

ISO 12180-2:2011:圓柱度評定規(guī)范

GB/T 1958-2017:產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)形狀和位置公差檢測規(guī)定

ISO 4287:1997:表面結(jié)構(gòu)輪廓法術(shù)語定義及參數(shù)

GB/T 11337-2004:平面度誤差檢測方法

檢測設(shè)備

三坐標(biāo)測量機(jī)(Hexagon Global S):空間尺寸測量精度±1.5μm+L/250μm

輪廓儀(Taylor Hobson PGI 3):表面形貌測量分辨率0.8nm

圓度儀(Mitutoyo RA-2200):徑向測量精度0.01μm

激光掃描儀(FARO Edge ScanArm):三維點(diǎn)云采集速率195,000點(diǎn)/秒

超聲波測厚儀(Olympus 38DL Plus):厚度測量范圍0.15~500mm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析半徑損耗檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢詳細(xì)檢測項(xiàng)目,請咨詢在線工程師

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