參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

表面溫度分布均勻性：±1.5℃/m2（300℃工況）

熱響應(yīng)時(shí)間：≤15秒（ΔT≥200℃）

最大熱流密度：≥25kW/m2（持續(xù)30分鐘）

熱輻射率測(cè)定：0.85-0.95（波長(zhǎng)8-14μm）

熱循環(huán)耐久性：1000次（-40℃~300℃交變）

檢測(cè)范圍

金屬基復(fù)合材料：鈦合金蜂窩板、鋁基碳化硅板

電子散熱器件：IGBT模塊基板、LED散熱模組

建筑隔熱材料：真空絕熱板、氣凝膠氈

工業(yè)爐內(nèi)襯：耐火澆注料、陶瓷纖維模塊

航天器熱防護(hù)系統(tǒng)：碳/碳復(fù)合材料、氧化鋯涂層

檢測(cè)方法

ASTM E1461-22：瞬態(tài)平面熱源法測(cè)定熱擴(kuò)散率

ISO 18555:2016：紅外熱成像法表面溫度場(chǎng)分析

GB/T 7287-2008：穩(wěn)態(tài)熱流計(jì)法傳熱系數(shù)測(cè)試

GB 11158-2008：高溫試驗(yàn)箱通用技術(shù)條件

IEC 61788-21:2021：超導(dǎo)材料臨界熱流測(cè)試規(guī)范

檢測(cè)設(shè)備

FLIR T865紅外熱像儀：-40~1500℃量程，空間分辨率1.1mrad

Netzsch LFA467激光閃射儀：測(cè)量范圍0.1~2000mm2/s

Agilent 34972A數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)：支持120通道同步采樣

Mikron M340黑體輻射源：發(fā)射率精度±0.005@30℃

Espec PL-3KJ環(huán)境試驗(yàn)箱：溫變速率15℃/min（-70~180℃）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)