參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

發(fā)光強(qiáng)度測(cè)試：波長(zhǎng)范圍400-800 nm，精度±1%

發(fā)射光譜分析：分辨率≤0.5 nm，掃描速度10 nm/s

衰減時(shí)間測(cè)量：時(shí)間分辨率0.1 ns-10 s

量子產(chǎn)率測(cè)定：積分球法校準(zhǔn)，誤差≤2%

熱穩(wěn)定性測(cè)試：溫度范圍-196°C至300°C

檢測(cè)范圍

半導(dǎo)體材料：GaN基LED芯片、量子點(diǎn)薄膜

熒光標(biāo)記物：生物抗體標(biāo)記物、細(xì)胞示蹤劑

稀土發(fā)光材料：YAG:Ce3?熒光粉、Eu3?配合物

有機(jī)光電材料：OLED發(fā)光層、鈣鈦礦薄膜

納米發(fā)光材料：上轉(zhuǎn)換納米顆粒、碳量子點(diǎn)

檢測(cè)方法

ASTM E2143-01(2021)：熒光壽命測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)方法

ISO 20504:2017：無(wú)機(jī)發(fā)光材料熱淬滅特性測(cè)試

GB/T 18901-2013：光致發(fā)光光譜分析方法通則

GB/T 32672-2016：量子點(diǎn)材料熒光量子產(chǎn)率測(cè)試

IEC 62341-6-2：OLED器件光衰特性評(píng)估規(guī)范

檢測(cè)設(shè)備

Edinburgh Instruments FLS1000：穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熒光光譜儀，配備450W氙燈和液氮制冷探測(cè)器

Horiba FluoroMax-4：高靈敏度熒光分光光度計(jì)，波長(zhǎng)范圍250-1700 nm

Tektronix DPO7254C：高速示波器（25 GHz帶寬），用于納秒級(jí)衰減曲線采集

Labsphere LMS-7600：150mm積分球系統(tǒng)，量子產(chǎn)率絕對(duì)測(cè)量誤差≤1.5%

Cryo Industries ST-100：閉循環(huán)低溫恒溫器（4K-500K），控溫精度±0.1K

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)