參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

Ra（算術(shù)平均偏差）：表征輪廓在取樣長度內(nèi)與基準(zhǔn)線的平均絕對偏差值（0.025-6.3μm）

Rz（最大高度）：單個(gè)取樣長度內(nèi)最高峰與最深谷的垂直距離（0.1-25μm）

Rq（均方根粗糙度）：輪廓偏離基準(zhǔn)線的均方根值（精度3%）

Rt（總高度）：評估長度內(nèi)最高峰與最低谷的垂直距離（測量范圍0.05-40μm）

Rv（谷深）：輪廓最低點(diǎn)相對于基準(zhǔn)線的最大深度值（分辨率0.01μm）

檢測范圍

金屬加工件：軸承滾道面（Ra0.1-0.4μm）、齒輪嚙合面（Rz3.2-6.3μm）

工程塑料件：密封環(huán)端面（Ra0.8-1.6μm）、滑塊導(dǎo)軌面（Rz10-25μm）

精密陶瓷基板：半導(dǎo)體封裝基板（Ra≤0.05μm）、熱壓燒結(jié)件（Rz0.4-1.0μm）

復(fù)合材料構(gòu)件：碳纖維增強(qiáng)件表面（Ra1.6-3.2μm）、金屬基復(fù)合涂層（Rz6.3-12.5μm）

光學(xué)元件：非球面鏡片（Ra≤0.01μm）、衍射光柵（Rz≤0.05μm）

檢測方法

接觸式測量法：ISO3274:1997規(guī)定的觸針式輪廓儀法（測力0.75mN20%）

光學(xué)干涉法：ASTME2387-19規(guī)定的白光干涉三維測量技術(shù)

激光散射法：GB/T10610-2009規(guī)定的表面散射光強(qiáng)分析法

比較樣塊法：GB/T3505-2009規(guī)定的目視/觸覺比對法（樣塊等級N1-N12）

原子力顯微術(shù)：ISO25178-604:2013規(guī)定的納米級三維形貌重建方法

檢測設(shè)備

MitutoyoSJ-410表面粗糙度測量儀：觸針半徑2μm，最大量程800μm

TaylorHobsonFormTalysurfi系列：分辨率0.8nm，符合ISO4288標(biāo)準(zhǔn)

BrukerContourGT-K光學(xué)輪廓儀：垂直分辨率0.1nm，支持ISO25178標(biāo)準(zhǔn)

ZeGagePlus激光干涉儀：測量速度50mm/s，重復(fù)精度0.5nm

OlympusLEXTOLS5000激光顯微鏡：12000光學(xué)放大倍率，符合JISB0671標(biāo)準(zhǔn)

KeyenceVK-X3000共聚焦顯微鏡：Z軸分辨率1nm，支持ASTMF1811標(biāo)準(zhǔn)

Hommel-EtamicT8000多功能測量系統(tǒng)：集成接觸/非接觸模塊，滿足GB/T1031要求

MahrMarSurfLD260便攜式粗糙度儀：測針測力0.7mN，符合DINENISO4287規(guī)范

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)