側(cè)方交會(huì)檢測摘要:側(cè)方交會(huì)檢測是一種通過測量目標(biāo)物幾何參數(shù)與空間位置關(guān)系的精密檢測方法,廣泛應(yīng)用于工業(yè)制造與質(zhì)量控制領(lǐng)域。其核心檢測要點(diǎn)包括角度偏差、尺寸精度、表面平整度等參數(shù),需結(jié)合高精度儀器與國際標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行驗(yàn)證,以確保數(shù)據(jù)的可靠性與可追溯性。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
尺寸精度檢測:范圍±0.005~0.1mm,依據(jù)公差等級IT5-IT8
角度偏差分析:角度范圍0°~180°,允許偏差±0.01°~0.1°
表面粗糙度測量:Ra值0.1~6.3μm,Rz值0.5~25μm
材料硬度測試:覆蓋洛氏硬度(HRC 20-70)、維氏硬度(HV 100-1000)
涂層厚度檢測:測量范圍1~500μm,精度±1%
金屬結(jié)構(gòu)件:包括鋁合金、鈦合金、不銹鋼等精密加工件
復(fù)合材料部件:碳纖維增強(qiáng)聚合物(CFRP)、玻璃纖維復(fù)合材料
塑料制品:工程塑料(PEEK、PA66)、注塑成型件
陶瓷基材:氧化鋁、氮化硅等燒結(jié)陶瓷組件
光學(xué)元件:透鏡、棱鏡、反射鏡等光學(xué)玻璃制品
ASTM E2934-15:幾何尺寸與形位公差(GD&T)通用檢測標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 1184-1996:形狀和位置公差未注公差要求
ISO 4287:1997:表面粗糙度參數(shù)定義與測量規(guī)范
ASTM E384-22:材料顯微硬度測試標(biāo)準(zhǔn)方法
GB/T 4956-2003:磁性基體非磁性涂層厚度測量方法
三坐標(biāo)測量機(jī)(CMM):Hexagon Croma Plus 7.10.7,測量精度±1.5μm+L/250
激光跟蹤儀:Leica AT960,最大測距80m,角度精度±0.5μm/m
表面粗糙度儀:Mitutoyo SJ-410,Ra測量范圍0.05~10μm
顯微硬度計(jì):Wilson 9347KV,載荷范圍10~3000gf
涂層測厚儀:Elcometer 456,支持磁性/渦流雙模式檢測
報(bào)告:可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
中析側(cè)方交會(huì)檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢詳細(xì)檢測項(xiàng)目,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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