參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

純度檢測(cè)：鐠（Pr）含量≥99.5%，硫（S）含量33.0%-34.5%

晶型結(jié)構(gòu)分析：六方相（2H型）占比≥95%，層間距（d₀₀₂）0.62-0.65nm

粒度分布：D50值1-5μm，粒徑分散度（PDI）≤0.3

熱穩(wěn)定性檢測(cè)：分解溫度≥450℃，失重率≤2%（N₂氛圍，25-600℃）

表面硫化物殘留：游離硫含量≤200ppm，硫酸鹽殘留≤50ppm

檢測(cè)范圍

半導(dǎo)體用二硫化鐠靶材

光學(xué)鍍膜涂層材料

催化劑前驅(qū)體粉末

固態(tài)電解質(zhì)中間體

高溫潤(rùn)滑劑復(fù)合材料

檢測(cè)方法

X射線衍射（XRD）：ASTM E975、GB/T 23413-2009（晶型定量分析）

電感耦合等離子體發(fā)射光譜（ICP-OES）：GB/T 23942-2009（元素含量測(cè)定）

同步熱分析（TGA-DSC）：ISO 11358-2021、GB/T 27761-2011（熱穩(wěn)定性評(píng)價(jià)）

激光粒度分析：GB/T 19077-2016（粒度分布測(cè)試）

離子色譜法（IC）：GB/T 4010-2016（硫化物殘留檢測(cè)）

檢測(cè)設(shè)備

X射線衍射儀：Rigaku SmartLab，配備高溫附件，精度±0.001°（2θ）

電感耦合等離子體質(zhì)譜儀：Agilent 7900 ICP-MS，檢出限≤0.01ppm

同步熱分析儀：NETZSCH STA 449 F5，溫度范圍RT-1600℃，精度±0.1μg

激光粒度分析儀：Malvern Mastersizer 3000，測(cè)量范圍0.01-3500μm

全自動(dòng)元素分析儀：Elementar vario EL cube，硫檢測(cè)精度±0.3wt%

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)