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副載波檢測

2025-03-20 關鍵詞:副載波測試周期,副載波測試方法,副載波測試案例 相關:
副載波檢測

副載波檢測摘要:副載波檢測是通信與電子系統(tǒng)質(zhì)量控制的關鍵環(huán)節(jié),主要針對信號調(diào)制精度、頻率穩(wěn)定性及諧波失真等核心參數(shù)進行量化分析。本文系統(tǒng)闡述副載波檢測的標準化項目、適用材料范圍、國際/國內(nèi)標準方法及專用設備配置方案,為工程驗收與產(chǎn)品認證提供技術依據(jù)。

參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。

注意:因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

載波頻率偏差:±0.1ppm~±10ppm(依據(jù)頻段劃分)

調(diào)制深度精度:±0.5%~±3%(AM/FM模式)

諧波失真度:≤-40dBc~-60dBc(基波功率≥10dBm)

相位噪聲:-80dBc/Hz~-120dBc/Hz(偏移1kHz~1MHz)

帶外雜散輻射:≤-36dBm~-57dBm(30MHz~6GHz頻段)

符號率容差:±50ppm~±200ppm(數(shù)字調(diào)制系統(tǒng))

檢測范圍

衛(wèi)星通信地面站設備(C/Ku/Ka頻段)

5G基站射頻單元(Sub-6GHz/mmWave)

微波半導體器件(GaN HEMT/LDMOS)

車載雷達模塊(24GHz/77GHz)

航空導航應答機(1090MHz ADS-B)

檢測方法

國際標準:

ASTM F1241-22《微波組件相位噪聲測量規(guī)程》

ISO 17025:2017《射頻參數(shù)測試實驗室能力要求》

ITU-R SM.328-14《頻譜發(fā)射限值測量方法》

國家標準:

GB/T 15540-2021《陸地移動通信設備測量方法》

GB/T 12192-2020《射頻連接器駐波比測試規(guī)范》

GB 9254-2022《信息技術設備無線電騷擾限值》

檢測設備

Keysight N9020B MXA信號分析儀(頻率范圍:20Hz~26.5GHz)

Rohde & Schwarz SMBV100B矢量信號源(最大輸出功率+19dBm)

Anritsu ML2437A峰值功率計(測量精度±0.02dB)

Tektronix RSA306B實時頻譜儀(捕獲帶寬40MHz)

Agilent E5500A相位噪聲測試系統(tǒng)(靈敏度-180dBc/Hz)

北京中科光析科學技術研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試:支持定制化試驗方案。

售后:報告終身可查,工程師1v1服務。

中析儀器 資質(zhì)

中析副載波檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師

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