參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

總鋁含量測(cè)定（Al?O? ≥85%）

磷元素定量分析（P?O? 62-65%）

Al/P摩爾比測(cè)定（0.8-1.2）

雜質(zhì)元素篩查（Fe≤0.02%、Ca≤0.01%、Mg≤0.005%）

晶體結(jié)構(gòu)表征（XRD衍射角偏差≤0.02°）

粒徑分布測(cè)試（D50=1-5μm）

灼燒減量測(cè)定（1050℃下≤2.5%）

檢測(cè)范圍

陶瓷工業(yè)：電子陶瓷基板/微波介質(zhì)陶瓷

涂料行業(yè)：耐高溫防腐涂料/防火涂料

催化劑載體：石油裂化催化劑/脫硝催化劑

電子材料：鋰離子電池正極材料/半導(dǎo)體封裝材料

阻燃材料：高分子復(fù)合材料/紡織品阻燃劑

檢測(cè)方法

ICP-OES法（ASTM E1479/GB/T 23942-2009）測(cè)定金屬雜質(zhì)

X射線熒光光譜法（ISO 12677/GB/T 16597-2019）主成分分析

X射線衍射法（ASTM D5380-14/GB/T 23413-2009）物相鑒定

激光粒度分析法（ISO 13320/GB/T 19077-2016）粒徑測(cè)試

熱重分析法（GB/T 19469-2004）灼燒減量測(cè)定

電位滴定法（ISO 3706/GB/T 223.7-2018）磷含量測(cè)定

檢測(cè)設(shè)備

Thermo Fisher iCAP 7400 ICP-OES：多元素同步分析系統(tǒng)（檢出限0.01ppm）

Bruker D8 ADVANCE XRD：Cu靶衍射儀（角度精度±0.0001°）

Malvern Mastersizer 3000：激光粒度儀（測(cè)量范圍0.01-3500μm）

PerkinElmer STA 8000：同步熱分析儀（溫度精度±0.1℃）

Shimadzu EDX-7000 XRF：波長(zhǎng)色散型熒光光譜儀（元素范圍Be-U）

Metrohm 905 Titrando：自動(dòng)電位滴定儀（分辨率0.1μL）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)