參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.化學(xué)成分分析：測(cè)定Ta/N摩爾比（范圍0.95-1.05）、雜質(zhì)元素含量（O≤0.8%、C≤0.3%）

2.晶體結(jié)構(gòu)表征：XRD分析立方相純度（半峰寬≤0.15°）、晶格常數(shù)（4.33-4.38?）

3.表面形貌檢測(cè)：SEM觀測(cè)表面粗糙度Ra≤50nm、涂層厚度偏差±5%

4.力學(xué)性能測(cè)試：納米壓痕硬度≥20GPa、抗彎強(qiáng)度≥450MPa

5.熱學(xué)性能評(píng)估：熱導(dǎo)率（25℃下2-5W/m·K）、熱膨脹系數(shù)（6.5-7.5×10??/K）

檢測(cè)范圍

1.氮化鉭涂層：應(yīng)用于切削刀具、航空發(fā)動(dòng)機(jī)葉片表面改性層

2.薄膜材料：半導(dǎo)體器件擴(kuò)散阻擋層（厚度50-200nm）

3.陶瓷基復(fù)合材料：高溫結(jié)構(gòu)件增強(qiáng)相（體積分?jǐn)?shù)15-40%）

4.濺射靶材：純度≥99.95%的物理氣相沉積用靶材

5.高溫合金添加劑：粉末粒徑D50=10-45μm的合金原料

檢測(cè)方法

1.ASTME1479-16：電感耦合等離子體發(fā)射光譜法測(cè)定金屬元素含量

2.ISO20283:2017：X射線衍射法定量分析立方相與六方相比例

3.GB/T35113-2017：掃描電子顯微鏡法測(cè)量涂層截面厚度及界面結(jié)合狀態(tài)

4.ASTMC1327-15：維氏壓痕法測(cè)定陶瓷材料室溫硬度

5.GB/T4339-2008：激光閃射法測(cè)量熱擴(kuò)散系數(shù)及計(jì)算熱導(dǎo)率

檢測(cè)設(shè)備

1.RigakuSmartLabX射線衍射儀：配備高溫附件，可進(jìn)行原位晶體結(jié)構(gòu)分析

2.FEINovaNanoSEM450場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡：分辨率達(dá)1nm的微觀形貌觀測(cè)系統(tǒng)

3.OxfordInstrumentsX-Max80能譜儀：實(shí)現(xiàn)微區(qū)成分面分布分析

4.AgilentG200納米壓痕儀：最大載荷500mN的力學(xué)性能測(cè)試平臺(tái)

5.NetzschSTA449F3同步熱分析儀：支持-150℃~1600℃的熱膨脹系數(shù)測(cè)定

6.PerkinElmerOptima8300ICP-OES：檢出限低至ppb級(jí)的元素定量分析儀

7.BrukerD8AdvanceXRD系統(tǒng)：配備LYNXEYEXE探測(cè)器的快速相組成分析設(shè)備

8.Keysight5500原子力顯微鏡：三維表面粗糙度測(cè)量精度±0.1nm

9.LinselsL75高溫氧化爐：最高工作溫度1600℃的抗氧化性能測(cè)試裝置

10.ShimadzuAG-XPlus萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)：50kN載荷下的抗彎強(qiáng)度測(cè)試系統(tǒng)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)