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非活性金屬檢測(cè)

2025-03-24 關(guān)鍵詞:非活性金屬測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),非活性金屬測(cè)試機(jī)構(gòu),非活性金屬測(cè)試方法 相關(guān):
非活性金屬檢測(cè)

非活性金屬檢測(cè)摘要:非活性金屬檢測(cè)通過(guò)科學(xué)方法評(píng)估材料的耐腐蝕性、成分均勻性及物理性能穩(wěn)定性。核心檢測(cè)項(xiàng)目包括化學(xué)成分分析、晶間腐蝕測(cè)試、表面鈍化膜評(píng)估等,需依據(jù)ASTM、ISO及GB/T系列標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。本文系統(tǒng)闡述檢測(cè)范圍、方法及設(shè)備選型要點(diǎn),為工業(yè)材料質(zhì)量控制提供技術(shù)依據(jù)。

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.化學(xué)成分分析:測(cè)定Cr(16-26%)、Ni(6-22%)、Mo(0-7%)等主量元素含量及雜質(zhì)元素控制(C≤0.08%,S≤0.03%)

2.晶間腐蝕試驗(yàn):按ASTMA262標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行硫酸-硫酸銅法(120±1℃/24h)或硝酸法(沸騰65%HNO3/5周期)

3.點(diǎn)蝕電位測(cè)量:采用動(dòng)電位掃描法(掃描速率0.166mV/s),記錄擊穿電位Eb(≥350mV)

4.鈍化膜厚度測(cè)試:XPS深度剖析(Ar+濺射速率0.1nm/s),典型厚度范圍2-10nm

5.應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂:按GB/T4157標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行U型彎曲試樣試驗(yàn)(42%MgCl2溶液/143℃/720h)

檢測(cè)范圍

1.奧氏體不銹鋼:包括304(06Cr19Ni10)、316L(022Cr17Ni12Mo2)等系列

2.鈦及鈦合金:TA1純鈦、TC4(Ti-6Al-4V)等航空航天材料

3.鎳基合金:Inconel625(NiCr22Mo9Nb)、HastelloyC276(NiMo16Cr15W)

4.鋯材:R60702(Zr702)、R60705(Zr705)核級(jí)材料

5.鉭材:Ta1(純度≥99.95%)、Ta-2.5W合金

檢測(cè)方法

ASTMG48-2015《使用氯化鐵溶液進(jìn)行不銹鋼及其合金點(diǎn)蝕和縫隙腐蝕的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》

ISO3651-2:1998《不銹鋼耐晶間腐蝕的測(cè)定》

GB/T4334-2020《不銹鋼耐腐蝕試驗(yàn)方法》系列標(biāo)準(zhǔn)

ASTME1473-2016《電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法測(cè)定鎳合金中化學(xué)成分的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》

GB/T10123-2022《金屬和合金的腐蝕應(yīng)力腐蝕試驗(yàn)》

檢測(cè)設(shè)備

1.奧林巴斯X-5000X射線熒光光譜儀:元素分析范圍Na-U,檢出限達(dá)1ppm

2.蔡司EVO18掃描電鏡:分辨率3nm@30kV,配備牛津X-MaxN80能譜儀

3.PARSTAT4000電化學(xué)工作站:電流分辨率10fA,支持10μHz-1MHz頻率響應(yīng)

4.ThermoScientificiCAP7400ICP-OES:軸向觀測(cè)等離子體,檢出限達(dá)ppb級(jí)

5.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀:Cu靶Kα輻射(λ=1.5406?),角度精度±0.0001°

6.MTSC45.105電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī):載荷范圍±100kN,精度等級(jí)0.5級(jí)

7.Q-FOGCRH1100循環(huán)腐蝕箱:溫度范圍-40~60℃,濕度控制20-98%RH

8.UlvacPHI5000VersaProbeIIIXPS系統(tǒng):?jiǎn)紊獳lKα源(1486.6eV),空間分辨率7.5μm

9.NetzschSTA449F3同步熱分析儀:溫度范圍RT~1550℃,TG分辨率0.1μg

10.AmetekVersaSCAN顯微硬度計(jì):載荷范圍1gf-3kgf,壓痕自動(dòng)測(cè)量精度±0.01μm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng):中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

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