參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。

檢測項目

1.游離二氧化硅含量測定：采用XRD法測定α-石英含量（0.1%-100%范圍）

2.多晶型分析：鑒別α-石英/方石英/鱗石英比例（檢出限0.5%）

3.粒徑分布測試：激光衍射法測量D10/D50/D90值（0.1-3500μm量程）

4.晶體結構表征：Rietveld全譜擬合分析晶胞參數(shù)（精度0.001）

5.表面吸附物測定：熱重分析儀測定結合水/有機物含量（0.01mg分辨率）

檢測范圍

1.建筑材料：人造石英石、陶瓷釉料、耐火磚等

2.工業(yè)粉塵：鑄造砂、玻璃制造原料、噴砂磨料

3.納米材料：氣相法白炭黑、硅基復合材料

4.電子材料：單晶硅片、光伏組件封裝材料

5.防護用品：防塵口罩過濾效率驗證樣品

檢測方法

ASTMD6059-2018《工作場所空氣中結晶二氧化硅的紅外光譜測定法》

ISO16258-2015《工作場所空氣-XRD法測定可吸入結晶二氧化硅》

GBZ/T300.33-2017《工作場所空氣有毒物質測定-第33部分：結晶型二氧化硅》

GB/T23263-2009《制品中石英含量的測定方法》

NIOSHManualofAnalyticalMethods7500（XRD定量分析法）

檢測設備

1.X射線衍射儀：RigakuSmartLab9kW，配備PDF-4+數(shù)據(jù)庫

2.傅里葉紅外光譜儀：ThermoScientificNicoletiS50，4cm?分辨率

3.激光粒度分析儀：MalvernMastersizer3000（干濕兩用模塊）

4.熱重分析儀：PerkinElmerTGA8000（最高1000℃控溫精度）

5.掃描電鏡-能譜聯(lián)用系統(tǒng)：HitachiSU5000+OxfordX-MaxN80

6.微波消解儀：CEMMARS6（支持HF酸密閉消解）

7.X熒光光譜儀：ShimadzuEDX-7000（硅元素檢出限10ppm）

8.粉塵采樣器：GilAirPlus（流量誤差≤2%）

9.超聲波分散器：BransonDigitalSonifierSFX550（20kHz可調振幅）

10.高溫馬弗爐：NaberthermL3/11（最高1100℃程序控溫）

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質