參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.數(shù)值孔徑（NA）測(cè)量：范圍0.10-0.66NA，精度0.02

2.纖芯直徑檢測(cè)：?jiǎn)文９饫w8.2-10.5μm公差0.3μm

3.衰減系數(shù)測(cè)試：波長(zhǎng)850/1300/1550nm下≤3.0dB/km

4.端面缺陷分析：劃痕深度≤50nm，崩邊尺寸≤30μm

5.抗拉強(qiáng)度驗(yàn)證：最小斷裂負(fù)荷≥4.4N（G.657.A2類）

檢測(cè)范圍

1.單模傳像光纖（SMF-28e+）

2.多模漸變折射率光纖（OM3/OM4）

3.柔性成像束（芯數(shù)500-10000）

4.高溫耐輻照特種光纖（工作溫度-60℃~300℃）

5.醫(yī)用內(nèi)窺鏡光纖組件（符合ISO13485體系）

檢測(cè)方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：

ASTMD4565-2015（幾何尺寸測(cè)試）

ISO/IEC60793-1-40:2019（衰減特性）

IEC61300-3-35:2015（端面三維形貌）

國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T15972.30-2021（機(jī)械性能試驗(yàn)）

GB/T18311.31-2016（環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試）

GB/T33779.1-2017（光學(xué)參數(shù)測(cè)量通則）

檢測(cè)設(shè)備

1.EXFOFTB-500光時(shí)域反射儀：動(dòng)態(tài)范圍45dB@1550nm

2.YokogawaAQ2200多波長(zhǎng)計(jì)：波長(zhǎng)精度5pm

3.OlympusMX61L工業(yè)顯微鏡：2000倍數(shù)字成像系統(tǒng)

4.Agilent8163B可調(diào)諧激光源：波長(zhǎng)范圍1260-1630nm

5.MitutoyoLSM-9020激光掃描儀：Z軸分辨率0.01μm

6.Instron5944材料試驗(yàn)機(jī)：載荷精度0.5%FS

7.VIAVIMTS-8000端面干涉儀：曲率半徑測(cè)量誤差2%

8.ThermoTMA450熱機(jī)械分析儀：溫度控制0.1℃

9.PerkinElmerLambda950分光光度計(jì)：光譜范圍175-3300nm

10.KeyenceVR-50003D輪廓儀：表面粗糙度Ra≤10nm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)