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傳像光纖檢測(cè)

2025-03-27 關(guān)鍵詞:傳像光纖測(cè)試機(jī)構(gòu),傳像光纖測(cè)試案例,傳像光纖測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 相關(guān):
傳像光纖檢測(cè)

傳像光纖檢測(cè)摘要:傳像光纖檢測(cè)是評(píng)估光纖成像性能與可靠性的關(guān)鍵流程,涵蓋幾何參數(shù)、光學(xué)特性及機(jī)械性能等核心指標(biāo)。檢測(cè)需依據(jù)ASTM、ISO及GB/T標(biāo)準(zhǔn)體系執(zhí)行,重點(diǎn)控制數(shù)值孔徑、衰減系數(shù)及端面缺陷等參數(shù)偏差,確保光纖在醫(yī)療、工業(yè)及通信領(lǐng)域的成像精度與傳輸穩(wěn)定性。

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.數(shù)值孔徑(NA)測(cè)量:范圍0.10-0.66NA,精度0.02

2.纖芯直徑檢測(cè):?jiǎn)文9饫w8.2-10.5μm公差0.3μm

3.衰減系數(shù)測(cè)試:波長(zhǎng)850/1300/1550nm下≤3.0dB/km

4.端面缺陷分析:劃痕深度≤50nm,崩邊尺寸≤30μm

5.抗拉強(qiáng)度驗(yàn)證:最小斷裂負(fù)荷≥4.4N(G.657.A2類)

檢測(cè)范圍

1.單模傳像光纖(SMF-28e+)

2.多模漸變折射率光纖(OM3/OM4)

3.柔性成像束(芯數(shù)500-10000)

4.高溫耐輻照特種光纖(工作溫度-60℃~300℃)

5.醫(yī)用內(nèi)窺鏡光纖組件(符合ISO13485體系)

檢測(cè)方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):

ASTMD4565-2015(幾何尺寸測(cè)試)

ISO/IEC60793-1-40:2019(衰減特性)

IEC61300-3-35:2015(端面三維形貌)

國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn):

GB/T15972.30-2021(機(jī)械性能試驗(yàn))

GB/T18311.31-2016(環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試)

GB/T33779.1-2017(光學(xué)參數(shù)測(cè)量通則)

檢測(cè)設(shè)備

1.EXFOFTB-500光時(shí)域反射儀:動(dòng)態(tài)范圍45dB@1550nm

2.YokogawaAQ2200多波長(zhǎng)計(jì):波長(zhǎng)精度5pm

3.OlympusMX61L工業(yè)顯微鏡:2000倍數(shù)字成像系統(tǒng)

4.Agilent8163B可調(diào)諧激光源:波長(zhǎng)范圍1260-1630nm

5.MitutoyoLSM-9020激光掃描儀:Z軸分辨率0.01μm

6.Instron5944材料試驗(yàn)機(jī):載荷精度0.5%FS

7.VIAVIMTS-8000端面干涉儀:曲率半徑測(cè)量誤差2%

8.ThermoTMA450熱機(jī)械分析儀:溫度控制0.1℃

9.PerkinElmerLambda950分光光度計(jì):光譜范圍175-3300nm

10.KeyenceVR-50003D輪廓儀:表面粗糙度Ra≤10nm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

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