參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.尺寸精度測量：長度公差0.05mm/100mm，寬度公差0.03mm/100mm

2.表面粗糙度評(píng)估：Ra值范圍0.1-6.3μm，Rz值最大50μm

3.平面度誤差分析：允許偏差≤0.1mm/m

4.材料厚度均勻性：波動(dòng)范圍5%標(biāo)稱厚度

5.涂層/鍍層覆蓋率：有效面積≥98%設(shè)計(jì)值

檢測范圍

1.金屬板材：冷軋鋼板（DC04/SPCC）、鋁合金板（5052/6061）

2.高分子薄膜：PET光學(xué)膜（厚度0.05-0.5mm）、PTFE防水膜

3.復(fù)合材料：碳纖維增強(qiáng)板（T300/T700級(jí)）、蜂窩夾層結(jié)構(gòu)

4.陶瓷基板：氧化鋁（Al?O?96%）、氮化硅（Si?N?）

5.紡織材料：工業(yè)濾布（克重200-800g/m）、碳纖維編織布

檢測方法

1.ASTMB265-20《鈦及鈦合金板材標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范》第9章尺寸測量條款

2.ISO8512:2020《塑料薄膜和薄片-厚度測定》機(jī)械接觸法

3.GB/T1804-2000《一般公差未注公差的線性和角度尺寸的公差》m級(jí)精度

4.ISO4287:1997《幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu):輪廓法術(shù)語定義及表面結(jié)構(gòu)參數(shù)》

5.GB/T4956-2003《磁性基體上非磁性覆蓋層厚度測量磁性法》

檢測設(shè)備

1.三坐標(biāo)測量機(jī)：MitutoyoCRYSTA-ApexS系列（測量精度0.8+L/600μm）

2.激光輪廓儀：KeyenceLJ-V7000（Z軸分辨率0.01μm）

3.表面粗糙度儀：TaylorHobsonSurtronicS-100系列（Ra測量范圍0.02-50μm）

4.光學(xué)投影儀：NikonV-12B（放大倍率50X-100X）

5.超聲波測厚儀：Olympus38DLPLUS（量程0.15-500mm）

6.X射線熒光鍍層測厚儀：FischerXDV-μ（探測元素范圍Na-U）

7.恒溫恒濕試驗(yàn)箱：ESPECSH-642（溫度范圍-70℃~150℃）

8.電子萬能試驗(yàn)機(jī)：Instron5967（最大載荷50kN）

9.白光干涉儀：ZygoNewView9000（垂直分辨率0.1nm）

10.工業(yè)CT掃描系統(tǒng)：WerthScopeCheck（空間分辨率3μm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)